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講演抄録/キーワード
講演名 2015-02-13 16:00
マルチサイクルキャプチャテスト集合を用いた単一論理故障の故障診断法の評価
高野秀之山崎紘史細川利典日大)・山崎浩二明大DC2014-86
抄録 (和) スキャンテストのテスト品質を向上させる手法としてマルチサイクルキャプチャテストが提案されている.しかしながら,マルチサイクルキャプチャテストに対応する故障診断が確立されていない.本論文では,マルチサイクルキャプチャテスト集合を用いた単一論理故障の故障診断法が提案され,評価される.単一サイクルキャプチャテストの故障診断である誤り経路追跡と故障シミュレーション法がマルチサイクルキャプチャテストの故障診断に拡張され,被疑故障数が評価される.実験結果はキャプチャサイクル数,被疑故障数,故障診断時間間の関係性を示す. 
(英) Multi-cycle capture testing has been proposed to improve test quality of scan testing. However, fault diagnosis for multi-cycle capture testing has not been established. In this paper, a fault diagnosis method for single logical faults using multi-cycle capture test sets is proposed and evaluated. Erroneous path tracing and fault simulation methods which are fault diagnosis for single-cycle capture testing are expanded to one for multi-cycle capture testing, and the number of suspected faults is evaluated. Experimental results show the relationship among the number of cycles for capture, the number of suspected faults, and fault diagnosis time.
キーワード (和) 故障診断 / 論理故障 / マルチサイクルキャプチャテスト / / / / /  
(英) Fault Diagnosis / Logical Fault / Multi-cycle Capture Test / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 446, DC2014-86, pp. 49-54, 2015年2月.
資料番号 DC2014-86 
発行日 2015-02-06 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2014-86

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2015-02-13 - 2015-02-13 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2015-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) マルチサイクルキャプチャテスト集合を用いた単一論理故障の故障診断法の評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) An Evalution of a Fault Diagnosis Method for Single Logical Faults Using Multi Cycle Capture Test Sets 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 故障診断 / Fault Diagnosis  
キーワード(2)(和/英) 論理故障 / Logical Fault  
キーワード(3)(和/英) マルチサイクルキャプチャテスト / Multi-cycle Capture Test  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 高野 秀之 / Hideyuki Takano / タカノ ヒデユキ
第1著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki / ヤマザキ ヒロシ
第2著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ
第3著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 山崎 浩二 / Koji Yamazaki / ヤマザキ コウジ
第4著者 所属(和/英) 明治大学 (略称: 明大)
Meiji University (略称: Meiji Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2015-02-13 16:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 DC2014-86 
巻番号(vol) vol.114 
号番号(no) no.446 
ページ範囲 pp.49-54 
ページ数
発行日 2015-02-06 (DC) 


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