| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2015-03-09 15:15 可逆回路内の縮退故障と短絡故障を検出するための最小検査入力集合を求める問題のNP困難性 ○高倉 響・山田敏規（埼玉大）  COMP2014-49 |
|
| 抄録 | （和） | 可逆回路は非常に少ないエネルギー消費で計算が行えるためとても魅力的であり, 様々な分野に応用が期待できる. よって，可逆回路製造時に回路内の故障を発見することはとても重要である.可逆回路内で短絡故障と縮退故障の両方を検出するための, 最小検査入力集合を生成する問題の複雑さについての研究は，著者らの知る限りこれまで行われていない.本研究では, 可逆回路に対し縮退および短絡故障を検出する最小の検査入力集合を生成することがNP-困難であることを示す. |
| （英） | Reversible circuits are quite attractive because of the possibility of nearly energy-free computation and application to various fields. During designing and constructing a reversible circuit, it is important to test the circuit and detect faults in the circuit. However, as far as the authors know, very few researches on NP-hardness of finding minimum test set for detecting stuck-at and/or bridging faults in a reversible circuit are known. This paper proves that it is NP-hard to find a minimum test set for detecting stuck-at and/or bridging faults in a reversible circuit. | |
| キーワード | （和） | 可逆回路 / 縮退故障 / 短絡故障 / 完全検査入力集合 / NP-困難性 / / / |
| （英） | Reversible Circuits / Stuck-at Faults / Bridging Faults / Complete Test Sets / NP-completeness / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 114, no. 509, COMP2014-49, pp. 47-51, 2015年3月. | |
| 資料番号 | COMP2014-49 | |
| 発行日 | 2015-03-02 (COMP) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | COMP2014-49 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | COMP |
| 開催期間 | 2015-03-09 - 2015-03-09 |
| 開催地（和） | 立命館大学 |
| 開催地（英） | Ritsumeikan University |
| テーマ（和） | （立命館大学共催） |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | COMP |
| 会議コード | 2015-03-COMP |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 可逆回路内の縮退故障と短絡故障を検出するための最小検査入力集合を求める問題のNP困難性 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | NP-hardness of Finding Minimum Test Set for Detecting Stuck-at and/or Bridging Faults in a Reversible Circuit |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 可逆回路 / Reversible Circuits |
| キーワード(2)（和/英） | 縮退故障 / Stuck-at Faults |
| キーワード(3)（和/英） | 短絡故障 / Bridging Faults |
| キーワード(4)（和/英） | 完全検査入力集合 / Complete Test Sets |
| キーワード(5)（和/英） | NP-困難性 / NP-completeness |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高倉 響 / Hibiki Takakura / タカクラ ヒビキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 埼玉大学 (略称： 埼玉大) Saitama University (略称： Saitama Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山田 敏規 / Toshinori Yamada / ヤマダ トシノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 埼玉大学 (略称： 埼玉大) Saitama University (略称： Saitama Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2015-03-09 15:15:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | COMP |
| 資料番号 | COMP2014-49 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | no.509 |
| ページ範囲 | pp.47-51 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2015-03-02 (COMP) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]