お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2015-11-26 15:55
光音響・発光同時計測法を用いたGaNの内部量子効率の測定
中納 隆河上航平山口敦史金沢工大ED2015-78 CPM2015-113 LQE2015-110 エレソ技報アーカイブへのリンク:ED2015-78 CPM2015-113 LQE2015-110
抄録 (和) 窒化物半導体の内部量子効率は、発光 (PL)強度の温度依存性から、極低温における内部量子効率を100%と仮定して、求められることが多い。しかし、欠陥の多い窒化物半導体で、この仮定は必ずしも正しいとは限らない。本研究では、異なる品質のGaNについて、光音響・発光同時計測法によって、正しい内部量子効率を測定した。その結果、質の悪いGaN試料では、従来の方法で正しい内部量子効率が求められないことが明らかとなった。 
(英) Internal quantum efficiency (IQE) is usually estimated from temperature dependence of photoluminescence (PL) intensity by assuming that the IQE at cryogenic temperature is unity. III-nitride samples, however, usually have large defect-density, and the assumption is not necessarily valid. In this study, we developed a new method to estimate accurate IQE values by simultaneous PL and photo-acoustic (PA) measurements, and demonstratively evaluated the IQE values for various GaN samples. The results show that the conventional method cannot give accurate IQE values for low-quality samples although it can be valid for high-quality samples, and that our method can always give accurate values.
キーワード (和) GaN / 光音響 / 内部量子効率 / PL温度依存性 / 非輻射再結合 / / /  
(英) GaN / Photo-acoustic / Internal quantum efficiency / temperature dependence of photoluminescence intensity / Non-radiative recombination / / /  
文献情報 信学技報, vol. 115, no. 331, LQE2015-110, pp. 53-58, 2015年11月.
資料番号 LQE2015-110 
発行日 2015-11-19 (ED, CPM, LQE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード ED2015-78 CPM2015-113 LQE2015-110 エレソ技報アーカイブへのリンク:ED2015-78 CPM2015-113 LQE2015-110

研究会情報
研究会 ED LQE CPM  
開催期間 2015-11-26 - 2015-11-27 
開催地(和) 大阪市立大学・学術情報センター会議室 
開催地(英) Osaka City University Media Center 
テーマ(和) 窒化物半導体光・電子デバイス、材料、関連技術、及び一般 
テーマ(英) Nitride Semiconductor Devices, Materials, Related Technologies 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 LQE 
会議コード 2015-11-ED-LQE-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 光音響・発光同時計測法を用いたGaNの内部量子効率の測定 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Determination of internal quantum efficiency in GaN by simultaneous measurements of photoluminescence and photo-acoustic signals 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) GaN / GaN  
キーワード(2)(和/英) 光音響 / Photo-acoustic  
キーワード(3)(和/英) 内部量子効率 / Internal quantum efficiency  
キーワード(4)(和/英) PL温度依存性 / temperature dependence of photoluminescence intensity  
キーワード(5)(和/英) 非輻射再結合 / Non-radiative recombination  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 中納 隆 / Takashi Nakano / ナカノ タカシ
第1著者 所属(和/英) 金沢工業大学 (略称: 金沢工大)
Kanazawa Institute of Technology (略称: KIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 河上 航平 / Kouhei Kawakami / カワカミ コウヘイ
第2著者 所属(和/英) 金沢工業大学 (略称: 金沢工大)
Kanazawa Institute of Technology (略称: KIT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 山口 敦史 / Atsushi A. Yamaguchi / ヤマグチ アツシ
第3著者 所属(和/英) 金沢工業大学 (略称: 金沢工大)
Kanazawa Institute of Technology (略称: KIT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第4著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2015-11-26 15:55:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 LQE 
資料番号 ED2015-78, CPM2015-113, LQE2015-110 
巻番号(vol) vol.115 
号番号(no) no.329(ED), no.330(CPM), no.331(LQE) 
ページ範囲 pp.53-58 
ページ数
発行日 2015-11-19 (ED, CPM, LQE) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会