ご案内 入会して研究会活動をもっとお得に!研究会参加費・年間登録費が会員価格になります。
お知らせ 【重要】研究会参加費の支払いおよび原稿アップロード手続きの変更に関するご案内
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2015-12-03 17:30
[招待講演]Shape From Focus/Defocus法による3次元形状計測法とその応用について ~ 焦点情報に基づく3次元形状復元 ~
吉田俊之福井大SIS2015-40
抄録 (和) 情報Xに基いて3次元形状を計測する手法はShape From Xと呼ばれ,多くの手法が知られているが,そのひとつにShape From Focus/Defocus(SFF/SFD)法がある.これは,焦点を変化させて撮影した対象物体の画像群(多焦点画像群)を用いて物体表面の各点までのdepth値を推定し,これより3次元形状を復元する手法である.SFF/SFD法は受動計測法の代表的な手法であり,能動計測法に分類されるレーザ計測やアクティブステレオ法に比べて簡単なハードウエアで比較的高精度な計測が実現できる利点がある.本稿では,SFF/SFD法の基礎および実用的な手法,また本研究室における取り組みや応用等について紹介させて頂く. 
(英) Shape From Focus/Defocus has been known as one of Shape From X techniques which measure and reconstruct 3-D shapes from the information X. The technique estimates the depth value to each point on an object surface based on a set of multi-focus images acquired by varying focus setting, from which the shape of the object is reconstructed. SFF/SFD techniques, which are typical of passive measurement techniques, can recover a precise object shape using rather simple hardware, compared with active ones such as active stereo and laser-based techniques. This report introduces fundamental and practical SFF/SFD techniques, and research activities in our labolatory related to SFF/SFD techniques.
キーワード (和) SFF/SFD法 / DFF/DFD法 / 受動計測 / 多焦点画像 / 3次元計測 / 形状復元 / /  
(英) SFF/SFD techniques / DFF/DFD techniques / passive measurement / multi-focus images / 3-D measurement / shape reconstruction / /  
文献情報 信学技報, vol. 115, no. 348, SIS2015-40, pp. 61-66, 2015年12月.
資料番号 SIS2015-40 
発行日 2015-11-26 (SIS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SIS2015-40

研究会情報
研究会 SIS  
開催期間 2015-12-03 - 2015-12-04 
開催地(和) まつや千千(福井県あわら市) 
開催地(英) Matsuya-sensen (Awara city, Fukui) 
テーマ(和) システムオンシリコン,近距離無線通信応用システム,一般 
テーマ(英) SoC, Related to RFID, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SIS 
会議コード 2015-12-SIS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) Shape From Focus/Defocus法による3次元形状計測法とその応用について 
サブタイトル(和) 焦点情報に基づく3次元形状復元 
タイトル(英) 3-D shape measurement with Shape From Focus/Defocus technique and its applications 
サブタイトル(英) 3-D Shape Reconstruction based on Focus Information 
キーワード(1)(和/英) SFF/SFD法 / SFF/SFD techniques  
キーワード(2)(和/英) DFF/DFD法 / DFF/DFD techniques  
キーワード(3)(和/英) 受動計測 / passive measurement  
キーワード(4)(和/英) 多焦点画像 / multi-focus images  
キーワード(5)(和/英) 3次元計測 / 3-D measurement  
キーワード(6)(和/英) 形状復元 / shape reconstruction  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉田 俊之 / Toshiyuki Yoshida / ヨシダ トシユキ
第1著者 所属(和/英) 福井大学 (略称: 福井大)
University of Fukui (略称: Univ. of Fukui)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第2著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第3著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第4著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第21著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第21著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第22著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第22著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第23著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第23著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第24著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第24著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第25著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第25著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第26著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第26著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第27著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第27著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第28著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第28著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第29著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第29著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第30著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第30著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第31著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第31著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第32著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第32著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第33著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第33著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第34著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第34著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第35著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第35著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第36著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第36著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2015-12-03 17:30:00 
発表時間 50分 
申込先研究会 SIS 
資料番号 SIS2015-40 
巻番号(vol) vol.115 
号番号(no) no.348 
ページ範囲 pp.61-66 
ページ数
発行日 2015-11-26 (SIS) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会