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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2016-02-17 16:05 電源ノイズによるFF回路の動作への影響に関する研究 ○山本拓弥・三浦幸也（首都大東京）  DC2015-96 |
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| 抄録 | （和） | 近年，VLSI回路の微細化，低電圧化が進むにつれて，IR-drop のような電源ノイズが論理回路，特にSRAM(static random access memory)やFF(Flip-Flop)回路のような記憶素子の動作に与える影響が問題となっている．SRAMにおいては既に事例の報告と共にいくつかの対策手法が提案されている．今後更にVLSI回路の微細化，低電圧化が進むと，FF回路においてもこの問題が顕著となり，対策が必要となる可能性が高い．そこで，本研究では回路シミュレーションを用いて，電源ノイズがFF回路の動作に与える影響について解析を行った．得られた結果から，FF回路の動作に異常が発生した場合の原理，原因や，回路構成，シミュレーション条件等の違いによる電源ノイズのFF回路の動作への影響についての考察を行った． |
| （英） | According to the scaling down, and lower power design of VLSI circuits, power supply noise such as IR-drop affects the operation of memory cells such as SRAM and FF circuits. Error occurrence on SRAM is already reported and some countermeasures are proposed. It is likely that further scaling down and lower power design will cause the error similar to that on SRAM for FF circuits and countermeasures will be needed. In this paper, we analyzed the effect of power supply noise on FF circuits and considered the cause of error occurrence. | |
| キーワード | （和） | 電源ノイズ / フリップフロップ / ラッチ / ビット反転 / 誤動作 / / / |
| （英） | Power Supply Noise / Flip-Flop / Latch / Bit-Flip / Malfunction / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 115, no. 449, DC2015-96, pp. 61-66, 2016年2月. | |
| 資料番号 | DC2015-96 | |
| 発行日 | 2016-02-10 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2015-96 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2016-02-17 - 2016-02-17 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテスト |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2016-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 電源ノイズによるFF回路の動作への影響に関する研究 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Study on the Effect of Power Supply Noise on Flip-Flop Circuits |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電源ノイズ / Power Supply Noise |
| キーワード(2)（和/英） | フリップフロップ / Flip-Flop |
| キーワード(3)（和/英） | ラッチ / Latch |
| キーワード(4)（和/英） | ビット反転 / Bit-Flip |
| キーワード(5)（和/英） | 誤動作 / Malfunction |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山本 拓弥 / Takuya Yamamoto / ヤマモト タクヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三浦 幸也 / Yukiya Miura / ミウラ ユキヤ |
| 第2著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2016-02-17 16:05:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2015-96 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | no.449 |
| ページ範囲 | pp.61-66 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-02-10 (DC) |
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