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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2016-02-17 14:25 重み付きランダムパターンとリシードを組み合わせた組込み自己テスト手法 ○里中沙矢香・米田友和・大和勇太・井上美智子（奈良先端大）  DC2015-92 |
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| 抄録 | （和） | テストコスト削減の一手法として組込み自己テスト(Built-In Self Test, BIST) が幅広く用いられている．しかし，BISTは擬似乱数を用いるため，故障検出率が低い，テスト時間が長いという問題点がある．本研究では，短いテスト時間，少ないテストデータ量で高い故障検出率を達成することを目的とし，重み付きランダムパターン技術にLFSRリシーディング技術を組み合わせた手法を提案する．従来の重み付きランダムパターン生成技術では，LFSRのシードは固定とし，重みデータを変更することで高い故障検出率を実現している．これに対し，本研究では，重み付きランダムパターンを用いるが，各FFの重みを1 つに固定しすることで重みデータを不要とし，LFSRリシーディング技術を用いることで，少ないデータ量で高い故障検出率を実現する．評価実験では，従来のLFSRリシーディング技術，重み付きランダムパターン生成技術に対し，提案手法が短いテスト時間で，高い故障検出率を達成可能であることを示す． |
| （英） | Built-In Self-Test (BIST) is widely used to reduce test cost. However, it is difficult to achieve high fault coverage with short test time since BIST relies on pseudo random patterns. This paper presents a method to combine LFSR reseeding with weighted random pattern testing BIST (WRBIST) to achieve high fault coverage with short test time and small test data volume. Conventional WRBIST uses multiple weight sets to achieve high fault coverage instead of changing LFSR seed. In contrast, the proposed WRBIST uses a xed weight to save test data volume and does reseeding to improve fault coverage. Experimental results show that the proposed method can achieve higher fault coverage with short test time compared to conventional LFSR reseeding and WRBIST. | |
| キーワード | （和） | BIST / STUMPS / LFSR / リシード / 重み付きランダムパターン / / / |
| （英） | BIST / STUMPS / LFSR / Reseeding / Weighted random pattern / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 115, no. 449, DC2015-92, pp. 37-42, 2016年2月. | |
| 資料番号 | DC2015-92 | |
| 発行日 | 2016-02-10 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2015-92 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2016-02-17 - 2016-02-17 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテスト |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2016-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 重み付きランダムパターンとリシードを組み合わせた組込み自己テスト手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Built-In Self-Test with Combination of Weighted Random Pattern and Reseeding |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | BIST / BIST |
| キーワード(2)（和/英） | STUMPS / STUMPS |
| キーワード(3)（和/英） | LFSR / LFSR |
| キーワード(4)（和/英） | リシード / Reseeding |
| キーワード(5)（和/英） | 重み付きランダムパターン / Weighted random pattern |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 里中 沙矢香 / Sayaka Satonaka / サトナカ サヤカ |
| 第1著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 米田 友和 / Tomokazu Yoneda / ヨネダ トモカズ |
| 第2著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大和 勇太 / Yuta Yamato / ヤマト ユウタ |
| 第3著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 美智子 / Michiko Inoue / イノウエ ミチコ |
| 第4著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2016-02-17 14:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2015-92 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | no.449 |
| ページ範囲 | pp.37-42 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-02-10 (DC) |
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