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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2016-03-25 15:45 LSIテストにおけるフェイル予測のためのばらつき補正に関する検討 ○小河 亮（奈良先端大）・中村芳行（ルネサス セミコンダクタパッケージ&テストソリューションズ）・井上美智子（奈良先端大）  CPSY2015-158 DC2015-112 |
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| 抄録 | （和） | 近年，データマイニングを用いたテストコスト削減手法が注目を集めている．LSIは多数のテスト工程を経て市場に出荷される．この際，前段のテストの結果から後段のテストでフェイルするLSIを予測できれば，後段のテストを省略し，テストコストを削減すること ができる． しかし，LSIの特性は製造の際にばらついてしまう．また，テストの際に計測装置ごとに計測値のばらつきが発生する．そのため，LSIの特性やテスト方法に即したばらつきの補正をしなければフェイル予測は難しい．本稿では，製造ばらつきであるパッケージロット間ばらつき，計測ばらつきであるテスタ間およびテスタサイト間のばらつき補正手法を提案する．また，そのばらつき補正方法の効果の有無を評価する手法を提案し，補正手法の有効性を示す．さらに，提案するばらつき補正方法がフェイル予測に有効であることを示す． |
| （英） | Recently, a test cost reduction using data mining has been attracted. It is expected to reduce the cost by predicting failing LSIs in later test processes using result of earlier test processes. However measured values in test processes have variation caused by the manufacturing and measurements themselves. Therefore, it is difficult to predict tests results without correction. In this paper, we propose variation correction method that corrects variations among package-lots, testers, and tester-sites respectively. We also propose a method to evaluate the effectiveness of correction and show that the proposed correction method is effective. Finally, we will consider how the proposed correction method is effective to fail prediction during LSI testing. | |
| キーワード | （和） | データマイニング / バーンインテスト / LSIテスト / ばらつき補正 / 外れ値解析 / / / |
| （英） | data mining / burn-in test / LSI test / variation correction / outlier analysis / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 115, no. 519, DC2015-112, pp. 271-276, 2016年3月. | |
| 資料番号 | DC2015-112 | |
| 発行日 | 2016-03-17 (CPSY, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| 査読に ついて |
本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります． | |
| PDFダウンロード | CPSY2015-158 DC2015-112 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY DC IPSJ-SLDM IPSJ-EMB IPSJ-ARC |
| 開催期間 | 2016-03-24 - 2016-03-25 |
| 開催地（和） | 福江文化会館・勤労福祉センター |
| 開催地（英） | Fukue Bunka Hall/Rodou Fukushi Center |
| テーマ（和） | 組込み技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2016 |
| テーマ（英） | ETNET2016 |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2016-03-CPSY-DC-SLDM-EMB-ARC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | LSIテストにおけるフェイル予測のためのばらつき補正に関する検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A consideration on variation correction for fail prediction in LSI test |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | データマイニング / data mining |
| キーワード(2)（和/英） | バーンインテスト / burn-in test |
| キーワード(3)（和/英） | LSIテスト / LSI test |
| キーワード(4)（和/英） | ばらつき補正 / variation correction |
| キーワード(5)（和/英） | 外れ値解析 / outlier analysis |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小河 亮 / Ryo Ogawa / オガワ リョウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中村 芳行 / Yoshiyuki Nakamura / ナカムラ ヨシユキ |
| 第2著者 所属（和/英） | ルネサスセミコンダクタパッケージ&テストソリューションズ株式会社 (略称： ルネサス セミコンダクタパッケージ&テストソリューションズ) Renesas Semiconductor Package & Test Solutions (略称： Renesas Semiconductor Package & Test Solutions) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 美智子 / Michiko Inoue / |
| 第3著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2016-03-25 15:45:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | CPSY2015-158, DC2015-112 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | no.518(CPSY), no.519(DC) |
| ページ範囲 | pp.271-276 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-03-17 (CPSY, DC) |
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