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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2016-05-19 13:30 多重解像度EPI分析法による高精度デプス推定 ○鈴木貴博・高橋桂太・藤井俊彰（名大）  SIP2016-2 IE2016-2 PRMU2016-2 MI2016-2 |
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| 抄録 | （和） | エピポーラ平面画像（EPI画像）の構造テンソル分析は，ライトフィールドデータ（密な多視点画像）において視差を推定するのに有効な手法である．しかし，視差範囲が大きくなるにつれて視差推定精度は劣化するため，許容される視差範囲には制限がある．この限界を克服するために，我々はSheared EPI Analysisと呼ばれる新しい手法を提案した．この手法では，構造テンソル分析に先立ってEPI画像にせん断変形を施し，様々なせん断変形量で得られた分析結果を統合して最終的な視差マップを得る．本研究では，この手法をさらに改善するため，多重解像度によるEPI画像分析を導入する．提案手法は，計算コストの増加を抑えつつテクスチャの粗密の度合いに柔軟に対応でき，より高品質な視差推定を実現できる． |
| （英） | Structure tensor analysis on epipolar plane images (EPIs) is a successful appproach to estimate disparity from a light field, i.e. a dense set of multi-view images. However, the disparity range allowable for the light field is limited, because the estimation becomes less accurate as the range of disparities become larger. To overcome this limitation, we proposed a new method called Sheared EPI Analysis, where EPIs are sheared before the structure tensor analysis. The results of analysis obtained with different shear values are integrated into a final disparity map. To further improve the method, in this paper, we introduce a multi-scale approach to the EPI analysis. Our method can successfully handle different texture frequencies while keeping the increase of computational cost low, resulting in more accurate disparity estimation. | |
| キーワード | （和） | エピポーラ平面画像 / ライトフィールド / / / / / / |
| （英） | Epipolar Plane Image / Light field / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 116, no. 37, IE2016-2, pp. 5-10, 2016年5月. | |
| 資料番号 | IE2016-2 | |
| 発行日 | 2016-05-12 (SIP, IE, PRMU, MI) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SIP2016-2 IE2016-2 PRMU2016-2 MI2016-2 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | PRMU IE MI SIP |
| 開催期間 | 2016-05-19 - 2016-05-20 |
| 開催地（和） | 名古屋大学 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | ヘルスケア・診断・治療のための信号・画像解析 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | IE |
| 会議コード | 2016-05-PRMU-IE-MI-SIP |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 多重解像度EPI分析法による高精度デプス推定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Highly accurate depth estimation using Multi-scale EPI Analysis |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | エピポーラ平面画像 / Epipolar Plane Image |
| キーワード(2)（和/英） | ライトフィールド / Light field |
| キーワード(3)（和/英） | / |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 鈴木 貴博 / Takahiro Suzuki / スズキ タカヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | 名古屋大学 (略称： 名大) Nagoya University (略称： Nagoya Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 桂太 / Keita Takahashi / タカハシ ケイタ |
| 第2著者 所属（和/英） | 名古屋大学 (略称： 名大) Nagoya University (略称： Nagoya Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤井 俊彰 / Toshiaki Fujii / フジイ トシアキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 名古屋大学 (略称： 名大) Nagoya University (略称： Nagoya Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2016-05-19 13:30:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | IE |
| 資料番号 | SIP2016-2, IE2016-2, PRMU2016-2, MI2016-2 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | no.36(SIP), no.37(IE), no.38(PRMU), no.39(MI) |
| ページ範囲 | pp.5-10 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-05-12 (SIP, IE, PRMU, MI) |
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