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講演抄録/キーワード
講演名 2016-10-28 17:00
有機薄膜トランジスタを用いた物理複製不能回路の電圧依存性
栗原一徳堀 洋平片下敏宏産総研)・垣田一成田中康裕宇部興産)・吉田 学産総研OME2016-47 エレソ技報アーカイブへのリンク:OME2016-47
抄録 (和) 本研究ではフレキシブル基板上に有機リングオシレータ(RO)回路を作成し,そのセキュリティ回路としての性能を評価した. セキュリティ回路としては近年注目されている物理複製不可能回路(PUF)の仕組みを利用し,複数のROのばらつきから求めた固有の数値の駆動電圧依存性を調べた. 結果として固有番号の生成エラー率は2 V駆動で4.8$times10^{-5}$であり揺らぎによって電圧が10%上昇しても0.1以下に抑えることができた. チップ間の独立性を示すInter HDは0.23~0.33であり、2 V駆動時のIntra HDである4.8$times10^{-5}$と比較して十分に小さいことから,本有機PUFは2 V以下で安定な動作をすることが示唆された. 
(英) We have investigated stability of novel security system. We fabricate organic ring oscillators (ROs) and consider them as core circuit of physically unclonable function (PUF). We generate unique numbers from variance of frequency of ROs and check their stability in various operation voltage as voltage fluctuation. In a result, our RO-PUF shows low error rate of 4.8$times10^{-5}$ at 2 V. And even at 2.2 V, the rate keeps less than 0.1. On the other hand, inter Hamming distance between two chips is calculated as 0.22 to 0.33 which is high enough compared with error rate. Therefore, it is suggested that our RO-PUF works stably with operation voltage of below 2V.
キーワード (和) 有機トランジスタ / 自己組織化 / 低電圧 / フレキシブル / セキュリティ / 物理複製不可能回路 / /  
(英) Organic transistor / Self-assembly / Low voltage / Flexible / Security / Physically unclonable function / /  
文献情報 信学技報, vol. 116, no. 281, OME2016-47, pp. 39-42, 2016年10月.
資料番号 OME2016-47 
発行日 2016-10-21 (OME) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード OME2016-47 エレソ技報アーカイブへのリンク:OME2016-47

研究会情報
研究会 OME  
開催期間 2016-10-28 - 2016-10-28 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 有機デバイス、材料、一般 
テーマ(英) Organic device, Materials, General 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 OME 
会議コード 2016-10-OME 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 有機薄膜トランジスタを用いた物理複製不能回路の電圧依存性 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Stability of organic physically unclonable function for voltage fractuation. 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 有機トランジスタ / Organic transistor  
キーワード(2)(和/英) 自己組織化 / Self-assembly  
キーワード(3)(和/英) 低電圧 / Low voltage  
キーワード(4)(和/英) フレキシブル / Flexible  
キーワード(5)(和/英) セキュリティ / Security  
キーワード(6)(和/英) 物理複製不可能回路 / Physically unclonable function  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 栗原 一徳 / Kazunori Kuribara / クリバラ カズノリ
第1著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 堀 洋平 / Yohei Hori / ホリ ヨウヘイ
第2著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 片下 敏宏 / Toshihiro Katashita / カタシタ トシヒロ
第3著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 垣田 一成 / Kazuaki Kakita / カキタ カズアキ
第4著者 所属(和/英) 宇部興産 (略称: 宇部興産)
Ube Industries, Ltd. (略称: Ube Inds.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 田中 康裕 / Yasuhiro Tanaka / タナカ ヤスヒロ
第5著者 所属(和/英) 宇部興産 (略称: 宇部興産)
Ube Industries, Ltd. (略称: Ube Inds.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉田 学 / Manabu Yoshida / ヨシダ マナブ
第6著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
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講演者 第1著者 
発表日時 2016-10-28 17:00:00 
発表時間 20分 
申込先研究会 OME 
資料番号 OME2016-47 
巻番号(vol) vol.116 
号番号(no) no.281 
ページ範囲 pp.39-42 
ページ数
発行日 2016-10-21 (OME) 


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