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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2017-01-31 13:10 光EFISHG法による有機EL素子の非破壊寿命推定 ○田口 大・間中孝彰・岩本光正（東工大）  EMD2016-81 MR2016-53 SCE2016-59 EID2016-60 ED2016-124 CPM2016-125 SDM2016-124 ICD2016-112 OME2016-93 |
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| 抄録 | （和） | 電界誘起光第2次高調波発生法（光EFISHG法）は、有機材料・デバイス内部のキャリア挙動を光学的にプローブできる測定手法である。本手法により有機デバイスの絶縁破壊前駆現象として現れるキャリア挙動を検出することで、予めデバイスの電気的破壊を察知することが可能である。本稿では、積層膜型有機EL素子中のキャリア蓄積現象と素子中の電界分布について述べ、IZO/a-NPD/Alq3/Al構造素子の測定例を取り上げて破壊前駆現象として現れるキャリア挙動について紹介する。 |
| （英） | By using electric-field-induced optical second-harmonic generation (EFISHG) measurement, we investigated non-destructive method for the detection of pre-electrical breakdown phenomena. In this paper, EFISHG measurements of double-layer organic light-emitting diodes (indium zinc oxide (IZO)/a-NPD/Alq3/Al) is presented to show remarkable carrier accumulation happens at the a-NPD/Alq3 interface as a pre-electrical breakdown phenomenon. | |
| キーワード | （和） | 光第2次高調波発生 / 非破壊測定 / 有機EL / 寿命推定 / / / / |
| （英） | electric-field-induced optical second-harmonic generation / non-destructive measurement / organic light-emitting diode / Diagnostic method / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 116, no. 447, OME2016-93, pp. 59-64, 2017年1月. | |
| 資料番号 | OME2016-93 | |
| 発行日 | 2017-01-23 (EMD, MR, SCE, EID, ED, CPM, SDM, ICD, OME) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2016-81 MR2016-53 SCE2016-59 EID2016-60 ED2016-124 CPM2016-125 SDM2016-124 ICD2016-112 OME2016-93 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD CPM ED EID EMD MRIS OME SCE |
| 開催期間 | 2017-01-30 - 2017-01-31 |
| 開催地（和） | みやじま杜の宿(広島) |
| 開催地（英） | Miyajima-Morino-Yado(Hiroshima) |
| テーマ（和） | 回路・デバイス・境界領域技術 |
| テーマ（英） | Circuit, Device and Engineering Science |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | OME |
| 会議コード | 2017-01-ICD-CPM-ED-EID-EMD-MR-OME-SCE-SDM-QIT |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 光EFISHG法による有機EL素子の非破壊寿命推定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Nondestructive OLED diagnostics by using optical EFISHG technique |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 光第2次高調波発生 / electric-field-induced optical second-harmonic generation |
| キーワード(2)（和/英） | 非破壊測定 / non-destructive measurement |
| キーワード(3)（和/英） | 有機EL / organic light-emitting diode |
| キーワード(4)（和/英） | 寿命推定 / Diagnostic method |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 田口 大 / Dai Taguchi / タグチ ダイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Tech) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 間中 孝彰 / Takaaki Manaka / マナカ タカアキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Tech) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岩本 光正 / Mitsumasa Iwamoto / イワモト ミツマサ |
| 第3著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Tech) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2017-01-31 13:10:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | OME |
| 資料番号 | EMD2016-81, MR2016-53, SCE2016-59, EID2016-60, ED2016-124, CPM2016-125, SDM2016-124, ICD2016-112, OME2016-93 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | no.439(EMD), no.440(MR), no.441(SCE), no.442(EID), no.443(ED), no.444(CPM), no.445(SDM), no.446(ICD), no.447(OME) |
| ページ範囲 | pp.59-64 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2017-01-23 (EMD, MR, SCE, EID, ED, CPM, SDM, ICD, OME) |
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