講演抄録/キーワード |
講演名 |
2018-03-01 09:00
配線間距離を考慮した特徴量に基づくリソグラフィホットスポット検出手法の検討 ○片岡 岳・稲木雅人・永山 忍・若林真一(広島市大) VLD2017-105 |
抄録 |
(和) |
LSI 製造工程のひとつであるリソグラフィにおいて,故障を引き起こす確率が高いレイアウトパターンをホットスポットと呼ぶ.機械学習を用いたホットスポット検出手法において,局所領域ごとの配線の面積のみ考慮した特徴量であるDensity Based Layout Feature が広く使われている.一方,デザインルールチェックの対象となることからもわかるように,パターン上の配線間の距離が小さい場合,転写された配線が短絡してしまう可能性が高まるため,配線間距離はホットスポット検出において重要な指標である可能性がある.そこで本研究では配線間距離を特徴量として考慮するホットスポット検出手法を提案し,実験により効果を確認する. |
(英) |
In lithography, which is one of the LSI fabrication processes, a layout pattern with a high failure probability is called a hotspot. In machine-learning based hotspot detection methods, Density Based Layout Feature, which considers only the area of wires in each local region, is widely used. Meanwhile, as we can see from the fact that the distance between wires is checked in design rule checking, when it is smaller, the transferred patterns of wires tend to form short circuits with a higher probability. Thus, the distance between wires is possibly an important measure for hotspot detection. Therefore, in this study, we propose and evaluate a hotspot detection method that considers the distance between wires as a feature vector. |
キーワード |
(和) |
リソグラフィ / ホットスポット / 機械学習 / 検出精度 / / / / |
(英) |
lithography / hotspot / machine learning / detection accuracy / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 117, no. 455, VLD2017-105, pp. 97-102, 2018年2月. |
資料番号 |
VLD2017-105 |
発行日 |
2018-02-21 (VLD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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