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講演抄録/キーワード
講演名
2018-04-13 11:35
白色干渉計を用いた光学的3Dナノ人工物メトリクス
○
吉田直樹
(
横浜国大
)・
上羽陽介
・
西尾俊平
・
大八木康之
(
大日本印刷
)・
法元盛久
(
コンパス・トゥーワン
)・
竪 直也
(
九大
)・
成瀬 誠
(
NICT
)・
松本 勉
(
横浜国大
)
HWS2018-3
抄録
(和)
ナノメートルオーダのランダムな凹凸の表面を有するナノ人工物を,白色干渉計によって得られる干渉画像を用いて認証する人工物メトリック・システムを提案し,その基本原理を実証する.
(英)
We propose an artificial-metric system which authenticates nanostructures with random irregularities by means of an interference fringe image captured by a white light interferometer.
キーワード
(和)
ナノ人工物メトリクス
/
白色干渉計
/
干渉画像
/
セキュリティ
/
ID管理
/ / /
(英)
Nano-artifact metrics
/
White light interferometer
/
Interference image
/
Security
/
Identity Management
/ / /
文献情報
信学技報, vol. 118, no. 3, HWS2018-3, pp. 11-16, 2018年4月.
資料番号
HWS2018-3
発行日
2018-04-06 (HWS)
ISSN
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
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HWS2018-3
研究会情報
研究会
HWS
開催期間
2018-04-13 - 2018-04-13
開催地(和)
九州大学医学部 百年講堂
開催地(英)
テーマ(和)
ハードウェアセキュリティ, 一般
テーマ(英)
講演論文情報の詳細
申込み研究会
HWS
会議コード
2018-04-HWS
本文の言語
日本語
タイトル(和)
白色干渉計を用いた光学的3Dナノ人工物メトリクス
サブタイトル(和)
タイトル(英)
Optical 3D Nano Artifact-metrics using White Light Interferometry
サブタイトル(英)
キーワード(1)(和/英)
ナノ人工物メトリクス
/
Nano-artifact metrics
キーワード(2)(和/英)
白色干渉計
/
White light interferometer
キーワード(3)(和/英)
干渉画像
/
Interference image
キーワード(4)(和/英)
セキュリティ
/
Security
キーワード(5)(和/英)
ID管理
/
Identity Management
キーワード(6)(和/英)
/
キーワード(7)(和/英)
/
キーワード(8)(和/英)
/
第1著者 氏名(和/英/ヨミ)
吉田 直樹
/
Naoki Yoshida
/
ヨシダ ナオキ
第1著者 所属(和/英)
横浜国立大学
(略称:
横浜国大
)
Yokohama National University
(略称:
YNU
)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ)
上羽 陽介
/
Yosuke Ueba
/
ウエバ ヨウスケ
第2著者 所属(和/英)
大日本印刷株式会社
(略称:
大日本印刷
)
Dai Nippon Printing Co., Ltd.
(略称:
DNP
)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ)
西尾 俊平
/
Shumpei Nishio
/
ニシオ シュンペイ
第3著者 所属(和/英)
大日本印刷株式会社
(略称:
大日本印刷
)
Dai Nippon Printing Co., Ltd.
(略称:
DNP
)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ)
大八木 康之
/
Yasuyuki Ohyagi
/
オオヤギ ヤスユキ
第4著者 所属(和/英)
大日本印刷株式会社
(略称:
大日本印刷
)
Dai Nippon Printing Co., Ltd.
(略称:
DNP
)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ)
法元 盛久
/
Morihisa Hoga
/
ホウガ モリヒサ
第5著者 所属(和/英)
コンパス・トゥーワン
(略称:
コンパス・トゥーワン
)
Compass21
(略称:
Compass21
)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ)
竪 直也
/
Naoya Tate
/
タテ ナオヤ
第6著者 所属(和/英)
九州大学
(略称:
九大
)
Kyushu University
(略称:
KU
)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ)
成瀬 誠
/
Makoto Naruse
/
ナルセ マコト
第7著者 所属(和/英)
情報通信研究機構
(略称:
NICT
)
National Institute of Information and Communications Technology
(略称:
NICT
)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ)
松本 勉
/
Tsutomu Matsumoto
/
マツモト ツトム
第8著者 所属(和/英)
横浜国立大学
(略称:
横浜国大
)
Yokohama National University
(略称:
YNU
)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第9著者 所属(和/英)
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第10著者 所属(和/英)
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第11著者 所属(和/英)
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第12著者 所属(和/英)
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第13著者 所属(和/英)
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第14著者 所属(和/英)
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第15著者 所属(和/英)
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第16著者 所属(和/英)
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第17著者 所属(和/英)
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第18著者 所属(和/英)
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第19著者 所属(和/英)
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第20著者 所属(和/英)
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第21著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第21著者 所属(和/英)
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第22著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第22著者 所属(和/英)
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第23著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第23著者 所属(和/英)
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第24著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第24著者 所属(和/英)
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第25著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第25著者 所属(和/英)
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第26著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第26著者 所属(和/英)
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第27著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第28著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第28著者 所属(和/英)
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第29著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第29著者 所属(和/英)
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第30著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第30著者 所属(和/英)
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第31著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第32著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第32著者 所属(和/英)
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第33著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第33著者 所属(和/英)
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第34著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第34著者 所属(和/英)
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第35著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第35著者 所属(和/英)
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第36著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第36著者 所属(和/英)
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(略称: )
講演者
第1著者
発表日時
2018-04-13 11:35:00
発表時間
25分
申込先研究会
HWS
資料番号
HWS2018-3
巻番号(vol)
vol.118
号番号(no)
no.3
ページ範囲
pp.11-16
ページ数
6
発行日
2018-04-06 (HWS)
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