| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2018-04-20 13:50
[招待講演]結晶性酸化物半導体FETを用いたメモリLSI ○小山 潤・関 貴子・八窪裕人・大下 智・古谷一馬・石津貴彦・熱海知昭・安藤善範・松林大介・加藤 清・奥田 高(半導体エネルギー研)・藤田昌宏(東大)・山﨑舜平(半導体エネルギー研) ICD2018-12 |
| 抄録 |
(和) |
c軸配向結晶性In-Ga-Zn 酸化物半導体 (CAAC-IGZO)を用いたFETは6yA/μm(85℃)という極めて小さいオフ電流特性をもち、このFETを使用することで極低消費電力のメモリ回路を構成することができる。SELでは60nmの結晶性酸化物半導体プロセスを用いてダイナミックロジック回路を含む1kbitの単極性メモリ回路を開発し、VDD=3.3Vにおいて書き込みパルス幅/読み出しアクセス時間20ns/45ns、書きこみ/読み出しエネルギー97.9pJ/123.6pJ、書き換え耐性1014回を達成した。 |
| (英) |
FETs fabricated with a c-axis aligned crystalline In-Ga-Zn oxide semiconductor (CAAC-IGZO) have an extremely low off-state current of 6 yA/m at 85C. Use of this FET enables memory circuits with extremely low power consumption. SEL has developed a 1kbit n-channel only memory module including dynamic logic circuits using a 60nm crystalline oxide semiconductor fabrication technology. This memory module achieves write pulse width and read access time of 20 ns and 45 ns, respectively, at VDD 3.3 V. The write and read energies are 97.9 pJ and 123.6 pJ, respectively, and it endures 1014 write cycles. |
| キーワード |
(和) |
結晶性酸化物半導体 / CAAC-IGZO / オフ電流 / n-ch単極性メモリ回路 / ダイナミックロジック回路 / / / |
| (英) |
Crystalline Oxide Semiconductor / CAAC-IGZO / off-state current / n-channel only memory module / dynamic logic circuits / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 118, no. 10, ICD2018-12, pp. 47-52, 2018年4月. |
| 資料番号 |
ICD2018-12 |
| 発行日 |
2018-04-12 (ICD) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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