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講演抄録/キーワード
講演名 2018-07-25 14:25
ガウス雑音を用いた暗号機器への意図的な電磁妨害に対する耐性評価手法
岡本拓実藤本大介林 優一奈良先端大)・本間尚文東北大)・アーサー ベッカーズジョゼフ バラスチベネディクト ゲーリッヒイングリッド ヴェルバウヘーデKU LeuvenISEC2018-20 SITE2018-12 HWS2018-17 ICSS2018-23 EMM2018-19
抄録 (和) 従来の意図的な電磁妨害(IEMI)で利用されるような高電力電磁波(HPEM)に比べ3桁ほど小さいレベルの妨害電磁波を暗号機器に対して非侵襲に印加し、一時的な故障を注入する攻撃が報告されている。従来、機器がIEMIの脅威の対象であるかを評価する際、攻撃者と同様の手順を用いた評価が行われており、攻撃を実施するのと同程度の時間が評価に求められる。本稿では、ガウス雑音を利用した短時間で実行可能な評価手法を提案する。脅威の対象であるか否かは、機器外部から対象の暗号モジュールにセットアップタイム違反を引き起こすような周波数帯域が存在するかどうかに依存する。従来の評価では効率の良い周波数を十分な時間をかけて探索し、印加する必要があったが、本手法では広帯域な周波数成分を持つガウス雑音を印加することで、一時的な故障が注入可能であるか短時間に評価する。実験では、AESを実装したSASEBO-Gに対して電源線からガウス雑音を印加し、故障が注入可能であることを確認し、従来法にくらべ短時間で脅威の対象か否かを評価可能であることを示した。 
(英) Fault injection attacks using intentional electromagnetic interference against cryptographic devices have been reported. When evaluating whether a device is a target of such a threat, traditionally, a method of directly tracing an attack meth-od has been used. For that reason, evaluation takes about the same time as the attack. In this paper, we propose a method to shorten the evaluation time using Gaussian noise. To evaluate whether the device is the subject of the threat de-scribed above, it is necessary to investigate whether there are frequencies causing a setup time violation in the crypto-graphic module from the outside the device. To find effective frequencies causing faults, conventionally, a wide fre-quency range was searched for sufficient time while changing the frequency step. On the other hand, in this paper, we inject Gaussian noise with broadband frequency components to the target equipment to eliminate frequency search and evaluate whether it is a threat target in a short time.
キーワード (和) 意図的な電磁妨害 / フォールト攻撃 / / / / / /  
(英) Intentional Electromagnetic Interference / Fault Injection Attack / / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 118, no. 153, HWS2018-17, pp. 77-81, 2018年7月.
資料番号 HWS2018-17 
発行日 2018-07-18 (ISEC, SITE, HWS, ICSS, EMM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード ISEC2018-20 SITE2018-12 HWS2018-17 ICSS2018-23 EMM2018-19

研究会情報
研究会 HWS ISEC SITE ICSS EMM IPSJ-CSEC IPSJ-SPT  
開催期間 2018-07-25 - 2018-07-26 
開催地(和) 札幌コンベンションセンター 
開催地(英) Sapporo Convention Center 
テーマ(和) セキュリティ、一般 
テーマ(英) Security, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 HWS 
会議コード 2018-07-HWS-ISEC-SITE-ICSS-EMM-CSEC-SPT 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ガウス雑音を用いた暗号機器への意図的な電磁妨害に対する耐性評価手法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Immunity Evaluation of Cryptographic Devices using Gaussian Noise against IEMI Fault Injection 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 意図的な電磁妨害 / Intentional Electromagnetic Interference  
キーワード(2)(和/英) フォールト攻撃 / Fault Injection Attack  
キーワード(3)(和/英) /  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 岡本 拓実 / Takumi Okamoto / オカモト タクミ
第1著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto / フジモト ダイスケ
第2著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 林 優一 / Yuichi Hayashi / ハヤシ ユウイチ
第3著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 本間 尚文 / Naofumi Homma / ホンマ ナオフミ
第4著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) アーサー ベッカーズ / Arthur Beckers / アーサー ベッカーズ
第5著者 所属(和/英) ルーヴェン・カトリック大学 (略称: KU Leuven)
imec-COSIC KU Leuven (略称: KU Leuven)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) ジョゼフ バラスチ / Josep Balasch / ジョゼフ バラスチ
第6著者 所属(和/英) ルーヴェン・カトリック大学 (略称: KU Leuven)
imec-COSIC KU Leuven (略称: KU Leuven)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) ベネディクト ゲーリッヒ / Benedikt Gierlichs / ベネディクト ゲーリッヒ
第7著者 所属(和/英) ルーヴェン・カトリック大学 (略称: KU Leuven)
imec-COSIC KU Leuven (略称: KU Leuven)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) イングリッド ヴェルバウヘーデ / Ingrid Verbauwhede / イングリッド ヴェルバウヘーデ
第8著者 所属(和/英) ルーヴェン・カトリック大学 (略称: KU Leuven)
imec-COSIC KU Leuven (略称: KU Leuven)
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講演者 第1著者 
発表日時 2018-07-25 14:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 HWS 
資料番号 ISEC2018-20, SITE2018-12, HWS2018-17, ICSS2018-23, EMM2018-19 
巻番号(vol) vol.118 
号番号(no) no.151(ISEC), no.152(SITE), no.153(HWS), no.154(ICSS), no.155(EMM) 
ページ範囲 pp.77-81 
ページ数
発行日 2018-07-18 (ISEC, SITE, HWS, ICSS, EMM) 


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