| 研究会情報 |
| 研究会 |
SDM ICD ITE-IST |
| 開催期間 |
2018-08-07 - 2018-08-09 |
| 開催地(和) |
北海道大学大学院情報科学研究科 M棟M151 |
| 開催地(英) |
Hokkaido Univ., Graduate School of IST M Bldg., M151 |
| テーマ(和) |
アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧・低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 |
| テーマ(英) |
Analog, Mixed Analog and Digital, RF, and Sensor Interface, Low Voltage/Low Power Techniques, Novel Devices/Circuits, and the Applications |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
SDM |
| 会議コード |
2018-08-SDM-ICD-IST |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル(和) |
28nm不揮発プログラマブルロジックに向けたCu原子スイッチ技術の開発 |
| サブタイトル(和) |
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| タイトル(英) |
Cu Atom Switch Technology toward 28nm Nonvolatile Programmable Logic |
| サブタイトル(英) |
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| キーワード(1)(和/英) |
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| キーワード(2)(和/英) |
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| キーワード(3)(和/英) |
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| キーワード(4)(和/英) |
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| キーワード(5)(和/英) |
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| キーワード(6)(和/英) |
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| キーワード(7)(和/英) |
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| キーワード(8)(和/英) |
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| 第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
根橋 竜介 / Ryusuke Nebashi / ネバシ リュウスケ |
| 第1著者 所属(和/英) |
日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC Corporation (略称: NEC) |
| 第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
伴野 直樹 / Naoki Banno / バンノ ナオキ |
| 第2著者 所属(和/英) |
日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC Corporation (略称: NEC) |
| 第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
宮村 信 / Makoto Miyamura / ミヤムラ マコト |
| 第3著者 所属(和/英) |
日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC Corporation (略称: NEC) |
| 第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
森岡 あゆ香 / Ayuka Morioka / モリオカ アユカ |
| 第4著者 所属(和/英) |
日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC Corporation (略称: NEC) |
| 第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
白 旭 / Bai Xu / Bai Xu |
| 第5著者 所属(和/英) |
日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC Corporation (略称: NEC) |
| 第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
岡本 浩一郎 / Koichiro Okamoto / オカモト コウイチロウ |
| 第6著者 所属(和/英) |
日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC Corporation (略称: NEC) |
| 第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
井口 憲幸 / Noriyuki Iguchi / イグチ ノリユキ |
| 第7著者 所属(和/英) |
日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC Corporation (略称: NEC) |
| 第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
沼田 秀昭 / Hideaki Numata / ヌマタ ヒデアキ |
| 第8著者 所属(和/英) |
日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC Corporation (略称: NEC) |
| 第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
波田 博光 / Hiromitsu Hada / ハダ ヒロミツ |
| 第9著者 所属(和/英) |
日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC Corporation (略称: NEC) |
| 第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
杉林 直彦 / Tadahiko Sugibayashi / スギバヤシ タダヒコ |
| 第10著者 所属(和/英) |
日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC Corporation (略称: NEC) |
| 第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
阪本 利司 / Toshitsugu Sakamoto / サカモト トシツグ |
| 第11著者 所属(和/英) |
日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC Corporation (略称: NEC) |
| 第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
多田 宗弘 / Munehiro Tada / タダ ムネヒロ |
| 第12著者 所属(和/英) |
日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC Corporation (略称: NEC) |
| 第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第13著者 所属(和/英) |
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| 第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第21著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第22著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第23著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第24著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第25著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第26著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第27著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第28著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第29著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第30著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第31著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第32著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第33著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第34著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第35著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第35著者 所属(和/英) |
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| 第36著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第36著者 所属(和/英) |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2018-08-09 14:35:00 |
| 発表時間 |
45分 |
| 申込先研究会 |
SDM |
| 資料番号 |
SDM2018-51, ICD2018-38 |
| 巻番号(vol) |
vol.118 |
| 号番号(no) |
no.172(SDM), no.173(ICD) |
| ページ範囲 |
pp.131-135 |
| ページ数 |
5 |
| 発行日 |
2018-07-31 (SDM, ICD) |