研究会情報 |
研究会 |
SCE |
開催期間 |
2018-10-10 - 2018-10-11 |
開催地(和) |
東北大学・電気通信研究所 |
開催地(英) |
|
テーマ(和) |
検出基盤技術及び応用、一般 |
テーマ(英) |
|
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
SCE |
会議コード |
2018-10-SCE |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
高品質Nb薄膜を用いた超伝導共振器の特性 |
サブタイトル(和) |
|
タイトル(英) |
Characteristics of superconducting resonators using a high quality Nb film |
サブタイトル(英) |
|
キーワード(1)(和/英) |
/ |
キーワード(2)(和/英) |
/ |
キーワード(3)(和/英) |
/ |
キーワード(4)(和/英) |
/ |
キーワード(5)(和/英) |
/ |
キーワード(6)(和/英) |
/ |
キーワード(7)(和/英) |
/ |
キーワード(8)(和/英) |
/ |
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
野口 卓 / Takashi Noguchi / ノグチ タカシ |
第1著者 所属(和/英) |
理化学研究所/国立天文台 (略称: 理研/国立天文台)
RIKEN/NAOJ (略称: RIKEN/NAOJ) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
ドマンジョ アニエス / Agnes Dominjon / ドマンジョ アニエス |
第2著者 所属(和/英) |
国立天文台 (略称: 国立天文台)
NAOJ (略称: NAOJ) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
クロウグ マチアス / Matthias Kroug / クロウグ マチアス |
第3著者 所属(和/英) |
国立天文台 (略称: 国立天文台)
NAOJ (略称: NAOJ) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
美馬 覚 / Satoru Mima / ミマ サトル |
第4著者 所属(和/英) |
理化学研究所 (略称: 理研)
RIKEN (略称: RIKEN) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
大谷 知行 / Chiko Otani / オオタニ チコウ |
第5著者 所属(和/英) |
理化学研究所 (略称: 理研)
RIKEN (略称: RIKEN) |
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第6著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第7著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第8著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第9著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第10著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第11著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第12著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第13著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第14著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第15著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第16著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第17著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第18著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第19著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第20著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2018-10-11 10:25:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
SCE |
資料番号 |
SCE2018-22 |
巻番号(vol) |
vol.118 |
号番号(no) |
no.233 |
ページ範囲 |
pp.31-36 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2018-10-03 (SCE) |