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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2018-12-06 13:25 論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について ○加藤隆明（九工大）・王 森レイ（愛媛大）・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）  VLD2018-57 DC2018-43 |
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| 抄録 | （和） | スキャンベースの論理BISTでは，過度のテスト時消費電力が問題となる．一方，電力削減は故障検出率向上及びテスト時間削減とのトレードオフであるため，単に電力削減だけではなくテスト対象回路毎に適した電力レベルでのテストが必要となる．本稿では，テスト電力制御と故障検出率向上のためのスキャンイン電力制御手法にスキャンアウト及びキャプチャ電力低減手法を組合せた総合的なテスト電力制御手法の評価を行った．論理/故障シミュレーション評価及びTEG実測定評価でテスト電力制御の有効性を示す． |
| （英） | Scan-based logic BIST has a crucial problem of high test power dissipation. Its solution requires a flexible test power control specified for each circuit because of trade-off between test power, fault coverage, and test application time. This paper addresses evaluation of the scan-in power reduction techniques with scan-out and capture reduction techniques. In addition to simulation-based experiments, measurement results of TEG chips’ experiments are shown to make sure the effectiveness of the techniques. | |
| キーワード | （和） | BIST / スキャンテスト / スキャンシフト電力 / キャプチャ電力 / マルチサイクルテスト / / / |
| （英） | BIST / Scan Test / Scan power / Capture power / Multi-Cycle Test / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 118, no. 335, DC2018-43, pp. 125-130, 2018年12月. | |
| 資料番号 | DC2018-43 | |
| 発行日 | 2018-11-28 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2018-57 DC2018-43 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC CPSY RECONF CPM ICD IE IPSJ-SLDM |
| 開催期間 | 2018-12-05 - 2018-12-07 |
| 開催地（和） | サテライトキャンパスひろしま |
| 開催地（英） | Satellite Campus Hiroshima |
| テーマ（和） | デザインガイア2018 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2018 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2018-12-VLD-DC-CPSY-RECONF-CPM-ICD-IE-SLDM-EMB-ARC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of Flexible Test Power Control for Logic BIST in TEG Chips |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | BIST / BIST |
| キーワード(2)（和/英） | スキャンテスト / Scan Test |
| キーワード(3)（和/英） | スキャンシフト電力 / Scan power |
| キーワード(4)（和/英） | キャプチャ電力 / Capture power |
| キーワード(5)（和/英） | マルチサイクルテスト / Multi-Cycle Test |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 加藤 隆明 / Takaaki Kato / カトウ タカアキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 王 森レイ / Senling Wang / オウ シンレイ |
| 第2著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2018-12-06 13:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2018-57, DC2018-43 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | no.334(VLD), no.335(DC) |
| ページ範囲 | pp.125-130 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2018-11-28 (VLD, DC) |
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