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講演抄録/キーワード
講演名 2019-11-15 16:15
サンプリング定理による電界強度分布測定位置最適化の基礎検討
緑 雅貴本谷智宏栗原 弘TDKEMCJ2019-74
抄録 (和) 電子機器等の放射妨害波試験は,一般に放射妨害波の電界強度が最大となる位置にて行われる.電界強度が最大となる位置を探すためには,細かな測定ステップで電界強度分布を測定する必要があり,測定時間が非常に長くなる.我々は,測定時間を短縮しながらも精度を維持する測定システムとして,サンプリング周波数変換を用いた高速な測定システムについて検討を行っており,半波長間隔まで測定点数を削減できることを報告している.本報告では,更なる測定点数の削減のため,サンプリング定理に基づく測定位置の最適化について基礎的な検討を行った.初めに,サンプリング定理に従う電界強度分布測定位置に関して定式化を行い,次に,ダブルリジッドホーンアンテナから放射される電界強度分布を用いて,妥当性の基礎的な検証を行った.検証の結果,本提案手法による測定点数が,半波長間隔と比較し約5.3 %と大幅に小さくなることを確認した.また,本提案手法と手動測定との電界強度が最大となる位置の偏差が,高さ方向で+0 / -0.03 m以内,角度方向で+0 / -3 deg以内となり,最大電界強度の偏差が,+0.02 / -0.16 dB以内となることを確認した. 
(英) Radiated emissions from electric devices are generally evaluated at a position where the maximum value is obtained in the electric field strength distribution. In order to determine the position where the maximum value is obtained in the electric field strength distribution, the measurement times for a standard radiated emission test are very long. We have studied a high-speed EMI measurement system using sampling frequency conversion as a measurement system that reduces the measurement time yet still maintains accuracy , and reported that the measurement intervals can be reduced to half-wavelength. In this study, in order to further reduce the number of measurement points, we did fundamental study on the optimization of the measurement position based on the sampling theorem. First, the electric field strength distribution measurement position according to the sampling theorem was formulated. Next, in order to feasibility study, the electric field strength distribution radiated from the double rigid horn antenna was measured. We could confirmed that the number of measurement points by the proposed method was greatly reduced to about 5.3% of the half-wavelength interval, and the deviation of the maximum electric field strength between the proposed method and the manual measurement was within +0.02 / -0.16 dB.
キーワード (和) サンプリング周波数変換 / アップサンプリング / サンプリング定理 / 平面波スペクトル / 放射妨害波測定 / / /  
(英) Sampling frequency conversion / Upsampling / Sampling theorem / Plane Wave Spectrum / EMI Measurement / / /  
文献情報 信学技報, vol. 119, no. 293, EMCJ2019-74, pp. 17-22, 2019年11月.
資料番号 EMCJ2019-74 
発行日 2019-11-08 (EMCJ) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMCJ2019-74

研究会情報
研究会 EMCJ IEE-SPC  
開催期間 2019-11-15 - 2019-11-15 
開催地(和) 機械振興会館 6階67号室 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 実装,EMC一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMCJ 
会議コード 2019-11-EMCJ-SPC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) サンプリング定理による電界強度分布測定位置最適化の基礎検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Fundamental study on optimizing measurement location of electric field strength distribution by sampling theorem 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) サンプリング周波数変換 / Sampling frequency conversion  
キーワード(2)(和/英) アップサンプリング / Upsampling  
キーワード(3)(和/英) サンプリング定理 / Sampling theorem  
キーワード(4)(和/英) 平面波スペクトル / Plane Wave Spectrum  
キーワード(5)(和/英) 放射妨害波測定 / EMI Measurement  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 緑 雅貴 / Masataka Midori / ミドリ マサタカ
第1著者 所属(和/英) TDK株式会社 (略称: TDK)
TDK Corporation (略称: TDK)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 本谷 智宏 / Tomohiro Honya / ホンヤ トモヒロ
第2著者 所属(和/英) TDK株式会社 (略称: TDK)
TDK Corporation (略称: TDK)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 栗原 弘 / Hiroshi Kurihara / クリハラ ヒロシ
第3著者 所属(和/英) TDK株式会社 (略称: TDK)
TDK Corporation (略称: TDK)
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講演者 第1著者 
発表日時 2019-11-15 16:15:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMCJ 
資料番号 EMCJ2019-74 
巻番号(vol) vol.119 
号番号(no) no.293 
ページ範囲 pp.17-22 
ページ数
発行日 2019-11-08 (EMCJ) 


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