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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2019-11-28 14:35 デバッギング難易度を考慮したプロセス指向型ソフトウェア信頼性モデリング ○井上真二（関西大）・山田 茂（鳥取大）  R2019-45 |
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| 抄録 | （和） | ソフトウェア故障発生の観測からその原因解析およびフォールトの修正に至るまでのデバッギングプロセスとテスト実施に伴い観測される信頼度成長過程との関係性を考慮したソフトウェア信頼性評価モデルについて議論する．特に，本稿では，フォールト修正難易度を考慮しながら，このデバッギングプロセスを位相型確率分布の概念に基づいて表現することで，新たなソフトウェア信頼性評価モデルの開発を行う．また，今回の議論で開発したソフトウェア信頼性評価モデルについて，デバッギングプロセスを意識した既存のソフトウェア信頼性評価モデルとの実測データを用いた適合性比較を行い，提案モデルの有用性およびデバッギングモデルを意識したソフトウェア信頼性モデリングの有効性について検証する． |
| （英） | We discuss software reliability growth modeling by considering the relationship between the debugging process, which mainly consists of the software failure observation, cause analysis and fault removal, and the software reliability growth process observed. Especially, we describe a software debugging process with the debugging difficulties by applying the notion of phase-type probability distribution. Further, we propose a few specific models for software reliability measurement by considering several debugging processes with the debugging difficulty respectively based on the notion of a phase-type probability distribution. We show that our models have better fitting performance compared with well-known the related existing model, which has been developed by focusing on the debugging process, by conducting goodness-of-fit comparisons using actual software counting data, and consider the usefulness of the debugging process-oriented software reliability growth modeling approach. | |
| キーワード | （和） | ソフトウェア信頼性評価 / 位相型確率分布 / デバッギングプロセス / フォールト修正難易度 / 適合性比較 / / / |
| （英） | Software reliability assessment / Phase-type probability distribution / Debugging process / Debugging difficulty / Goodness-of-fit compassions / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 119, no. 315, R2019-45, pp. 13-18, 2019年11月. | |
| 資料番号 | R2019-45 | |
| 発行日 | 2019-11-21 (R) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2019-45 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
| 開催期間 | 2019-11-28 - 2019-11-28 |
| 開催地（和） | 中央電気倶楽部 |
| 開催地（英） | Central Electric Club |
| テーマ（和） | 半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 |
| テーマ（英） | Reliability of semiconductor and electronic devices, Reliability general |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2019-11-R |
| 本文の言語 | 英語（日本語タイトルあり） |
| タイトル（和） | デバッギング難易度を考慮したプロセス指向型ソフトウェア信頼性モデリング |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Process-Oriented Software Reliability Modeling with Debugging Difficulties |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトウェア信頼性評価 / Software reliability assessment |
| キーワード(2)（和/英） | 位相型確率分布 / Phase-type probability distribution |
| キーワード(3)（和/英） | デバッギングプロセス / Debugging process |
| キーワード(4)（和/英） | フォールト修正難易度 / Debugging difficulty |
| キーワード(5)（和/英） | 適合性比較 / Goodness-of-fit compassions |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 真二 / Shinji Inoue / イノウエ シンジ |
| 第1著者 所属（和/英） | 関西大学 (略称： 関西大) Kansai University (略称： Kansai Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山田 茂 / Shigeru Yamada / ヤマダ シゲル |
| 第2著者 所属（和/英） | 鳥取大学 (略称： 鳥取大) Tottori University (略称： Tottori Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2019-11-28 14:35:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2019-45 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | no.315 |
| ページ範囲 | pp.13-18 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2019-11-21 (R) |
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