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講演抄録/キーワード
講演名 2020-02-26 12:00
n入力マルチプレクサのテスト不能故障数削減のためのコントローラ拡大法
竹内勇希細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大DC2019-90
抄録 (和) 近年,VLSIの微細化,高速化にともない,遷移故障モデルなどのタイミング欠陥に対するテストが必要不可欠となっている.しかしながら,テスト不能な遷移故障数が縮退故障と比較し,数多く存在するため,構造テストという観点では,現状の遷移の故障検出率のテストでは不十分であり,潜在的なタイミング欠陥を見逃す可能性がある.そのため,遷移故障モデルにおける故障検出率向上のためのテスト容易化設計が重要である.本論文では,遷移故障モデルにおいて,n入力マルチプレクサの制御信号線のテストを可能にするためのLOCテスト生成モデルを提案する.LOCテスト生成モデルの制御信号値割当てをコントローラ拡大により実現する.高位レベルベンチマーク回路に対する実験結果は,提案手法が,それらのデータパスの遷移故障に対して100%故障検出率を達成したことを示す. 
(英) With the complexity for VLSIs, transition fault testing is required. However, VLSIs generally have more untestable transition faults than untestable stuck at faults due to the circuit structures. From the view point of structural testing, transition fault coverage might be insufficient and potential timing defects might be escaped. Therefore, design-for-testability to improve transition fault coverage is important. In this paper, we propose LOC test generation models to test control signal lines of multiplexers with n-inputs. The assignments of control signals for the LOC test generation models are realized by controller augmentation. Our experimental results for high-level benchmark circuits show that the proposed method achieved 100% fault coverage for transition faults in the data-paths.
キーワード (和) コントローラ拡大 / テスト活性化用状態遷移ペア / マルチプレクサ / LOC / / / /  
(英) controller augmentation / test sensitization states / multiplexers / launch on capture / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 119, no. 420, DC2019-90, pp. 25-30, 2020年2月.
資料番号 DC2019-90 
発行日 2020-02-19 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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PDFダウンロード DC2019-90

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2020-02-26 - 2020-02-26 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英)  
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2020-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) n入力マルチプレクサのテスト不能故障数削減のためのコントローラ拡大法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A controller augmentation method to reduce the number of untestable faults for multiplexers with n-inputs 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) コントローラ拡大 / controller augmentation  
キーワード(2)(和/英) テスト活性化用状態遷移ペア / test sensitization states  
キーワード(3)(和/英) マルチプレクサ / multiplexers  
キーワード(4)(和/英) LOC / launch on capture  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 竹内 勇希 / Yuki Takeuchi / タケウチ ユウキ
第1著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ
第2著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki / ヤマザキ ヒロシ
第3著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ
第4著者 所属(和/英) 京都産業大学 (略称: 京都産大)
Kyoto Sangyo University (略称: Kyoto Sangyo Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2020-02-26 12:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 DC2019-90 
巻番号(vol) vol.119 
号番号(no) no.420 
ページ範囲 pp.25-30 
ページ数
発行日 2020-02-19 (DC) 


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