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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2020-02-26 11:35 マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法 ○青野智己・中岡典弘・周 細紅・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤（ルネサス エレクトロニクス）  DC2019-89 |
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| 抄録 | （和） | 車載システムの機能安全を保障するためには，システムの起動時に回路を検査するパワーオンセルフテスト(POST)が必要である．POSTでは，厳しいテスト時間制約の下で機能安全基準を満たす故障検出率を達成しなければならない．本稿では，マルチサイクルテストを用いたPOSTのテスト時間短縮および故障検出率向上のために，マルチサイクルテストに適したテストポイント挿入法を提案する．提案法は，マルチサイクルに時間展開した論理回路のテスタビリティを考慮してテストポイントの挿入箇所を選定する．提案法をベンチマーク回路に適用した評価実験によって提案法の効果を評価する． |
| （英） | For guaranteeing the functional safety of an in-vehicle system, a power-on self-test (POST) is required to test the devices of system with high fault coverage (e.g.: >90% for stuck-at faults) and within extremely limited test application time TAT (e.g.: <50ms) at the system startup. Multi-cycle test looks promising a way to satisfy these requirements of POST, however, faces a challenge of fault detection degradation (FDD) problem that would obstruct the further test reduction of multi-cycle test. This paper propose a test point insertion approach to address such problem for improving the testability of CUT (circuit under test) in multi-cycle test scheme. In the proposed approach, we also proposed the selection algorithm to determine the most effective location for test point insertion in consideration of the testability of the time-expanded logic circuit under multi-cycle test. We show the effectiveness of the proposed method by an evaluation experiments on benchmark circuits. | |
| キーワード | （和） | POST / LBIST / マルチサイクルテスト / 機能安全規格 / ISO26262 / / / |
| （英） | POST / LBIST / Multi-cycle Test / Functional Safety / ISO26262 / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 119, no. 420, DC2019-89, pp. 19-24, 2020年2月. | |
| 資料番号 | DC2019-89 | |
| 発行日 | 2020-02-19 (DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2019-89 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2020-02-26 - 2020-02-26 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2020-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Method for Inserting Fault-Detection-Strengthened Test Point under Multi-cycle Testing |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | POST / POST |
| キーワード(2)（和/英） | LBIST / LBIST |
| キーワード(3)（和/英） | マルチサイクルテスト / Multi-cycle Test |
| キーワード(4)（和/英） | 機能安全規格 / Functional Safety |
| キーワード(5)（和/英） | ISO26262 / ISO26262 |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 青野 智己 / Tomoki Aono / アオノ トモキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime Univercity (略称： Ehime Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中岡 典弘 / Norihiro Nakaoka / ナカオカ ノリヒロ |
| 第2著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime Univercity (略称： Ehime Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 周 細紅 / Shyu Saikou / シュウ サイコウ |
| 第3著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime Univercity (略称： Ehime Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 王 森レイ / Wang Senling / オウ シンレイ |
| 第4著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime Univercity (略称： Ehime Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 樋上 喜信 / Higami Yoshinobu / ヒガミ ヨシノブ |
| 第5著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime Univercity (略称： Ehime Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ |
| 第6著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime Univercity (略称： Ehime Univ.) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岩田 浩幸 / Hiroyuki Iwata / イワタ ヒロユキ |
| 第7著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス株式会社 (略称： ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Corporation (略称： Renesas) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | 前田 洋一 / Youichi Maeda / マエダ ヨウイチ |
| 第8著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス株式会社 (略称： ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Corporation (略称： Renesas) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松嶋 潤 / Jun Matsushima / マツシマ ジュン |
| 第9著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス株式会社 (略称： ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Corporation (略称： Renesas) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2020-02-26 11:35:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2019-89 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | no.420 |
| ページ範囲 | pp.19-24 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2020-02-19 (DC) |
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