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講演抄録/キーワード
講演名 2020-10-26 14:55
半導体チップのハードウェアトロージャンに対する物理レベルの取り組み(Ⅱ)
坂根広史川村信一今福健太郎堀 洋平永田 真林 優一松本 勉産総研HWS2020-35 ICD2020-24 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2020-24
抄録 (和) 情報の窃取や不正改変を目的として半導体チップ上に挿入されるハードウェアトロ―ジャンの脅威が問題となりつつある.本稿では,物理的に与えられたICチップ上のハードウェアトロ―ジャンを検出する諸手法について体系的に整理し,その一つとして光学的な観測解析手法を取り上げる.ICの故障解析技術として発展,利用されてきた光学的解析の諸手法について,本研究で選択し先鋭化した特性を組み合わせることでハードウェアトロ―ジャンの評価検出手法として高度化できることを示す. 
(英) Hardware Trojans, known to be designed and crafted with malicious intent and deployed to be part of the hardware of the victim’s information systems, have become real threats. In this paper, we will discuss IC failure analysis and reverse-engineering techniques as methods and tools for detecting Hardware Trojans in IC chips after production. We will further dive into the optical analysis techniques, which are part of the traditional failure analysis tools. We demonstrate that an efficient and cost-effective realization of Hardware Trojan detection technique can be developed, taking advantage of some optical measurement features.
キーワード (和) ハードウェアトロージャン / 半導体チップ / 物理レベル / 検知 / 光学的解析 / / /  
(英) Hardware Trojan / Semiconductor Chip / Physical Level / Detection / Optical Analysis / / /  
文献情報 信学技報, vol. 120, no. 211, HWS2020-35, pp. 59-64, 2020年10月.
資料番号 HWS2020-35 
発行日 2020-10-19 (HWS, ICD) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード HWS2020-35 ICD2020-24 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2020-24

研究会情報
研究会 ICD HWS  
開催期間 2020-10-26 - 2020-10-26 
開催地(和) オンライン開催 
開催地(英) Online 
テーマ(和) ハードウェアセキュリティ,一般 
テーマ(英) Hardware Security, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 HWS 
会議コード 2020-10-ICD-HWS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 半導体チップのハードウェアトロージャンに対する物理レベルの取り組み(Ⅱ) 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Physical-Level Detection Approach against Hardware Trojans inside Semiconductor Chips (II) 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ハードウェアトロージャン / Hardware Trojan  
キーワード(2)(和/英) 半導体チップ / Semiconductor Chip  
キーワード(3)(和/英) 物理レベル / Physical Level  
キーワード(4)(和/英) 検知 / Detection  
キーワード(5)(和/英) 光学的解析 / Optical Analysis  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 坂根 広史 / Hirofumi Sakane / サカネ ヒロフミ
第1著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 川村 信一 / Shinichi Kawamura / カワムラ シンイチ
第2著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 今福 健太郎 / Kentaro Imafuku / イマフク ケンタロウ
第3著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 堀 洋平 / Yohei Hori / ホリ ヨウヘイ
第4著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト
第5著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 林 優一 / Yuichi Hayashi / ハヤシ ユウイチ
第6著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 松本 勉 / Tsutomu Matsumoto / マツモト ツトム
第7著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
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講演者 第1著者 
発表日時 2020-10-26 14:55:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 HWS 
資料番号 HWS2020-35, ICD2020-24 
巻番号(vol) vol.120 
号番号(no) no.211(HWS), no.212(ICD) 
ページ範囲 pp.59-64 
ページ数
発行日 2020-10-19 (HWS, ICD) 


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