講演抄録/キーワード |
講演名 |
2020-10-26 14:55
半導体チップのハードウェアトロージャンに対する物理レベルの取り組み(Ⅱ) ○坂根広史・川村信一・今福健太郎・堀 洋平・永田 真・林 優一・松本 勉(産総研) HWS2020-35 ICD2020-24 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2020-24 |
抄録 |
(和) |
情報の窃取や不正改変を目的として半導体チップ上に挿入されるハードウェアトロ―ジャンの脅威が問題となりつつある.本稿では,物理的に与えられたICチップ上のハードウェアトロ―ジャンを検出する諸手法について体系的に整理し,その一つとして光学的な観測解析手法を取り上げる.ICの故障解析技術として発展,利用されてきた光学的解析の諸手法について,本研究で選択し先鋭化した特性を組み合わせることでハードウェアトロ―ジャンの評価検出手法として高度化できることを示す. |
(英) |
Hardware Trojans, known to be designed and crafted with malicious intent and deployed to be part of the hardware of the victim’s information systems, have become real threats. In this paper, we will discuss IC failure analysis and reverse-engineering techniques as methods and tools for detecting Hardware Trojans in IC chips after production. We will further dive into the optical analysis techniques, which are part of the traditional failure analysis tools. We demonstrate that an efficient and cost-effective realization of Hardware Trojan detection technique can be developed, taking advantage of some optical measurement features. |
キーワード |
(和) |
ハードウェアトロージャン / 半導体チップ / 物理レベル / 検知 / 光学的解析 / / / |
(英) |
Hardware Trojan / Semiconductor Chip / Physical Level / Detection / Optical Analysis / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 120, no. 211, HWS2020-35, pp. 59-64, 2020年10月. |
資料番号 |
HWS2020-35 |
発行日 |
2020-10-19 (HWS, ICD) |
ISSN |
Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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