| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2020-11-17 11:20 マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法 ○環 輝・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤（ルネサス エレクトロニクス）  VLD2020-15 ICD2020-35 DC2020-35 RECONF2020-34 |
|
| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 120, no. 236, DC2020-35, pp. 24-29, 2020年11月. | |
| 資料番号 | DC2020-35 | |
| 発行日 | 2020-11-10 (VLD, ICD, DC, RECONF) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2020-15 ICD2020-35 DC2020-35 RECONF2020-34 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC RECONF ICD IPSJ-SLDM |
| 開催期間 | 2020-11-17 - 2020-11-18 |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | デザインガイア2020 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2020 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2020-11-VLD-DC-RECONF-ICD-SLDM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Control Point Selection Approach for Scan Pattern Reduction under Multi-cycle Test |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | / |
| キーワード(2)（和/英） | / |
| キーワード(3)（和/英） | / |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 環 輝 / Hikaru Tamaki / タマキ ヒカル |
| 第1著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 王 森レイ / Senling Wang / オウ シンレイ |
| 第2著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ |
| 第3著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岩田 浩幸 / Hiroyuki Iwata / |
| 第5著者 所属（和/英） | ルネサスエレクトロニクス (略称： ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Corporation (略称： Renesas) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 前田 洋一 / Yoichi Maeda / マエダ ヨウイチ |
| 第6著者 所属（和/英） | ルネサスエレクトロニクス (略称： ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Corporation (略称： Renesas) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松嶋 潤 / Jun Matsushima / |
| 第7著者 所属（和/英） | ルネサスエレクトロニクス (略称： ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Corporation (略称： Renesas) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2020-11-17 11:20:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2020-15, ICD2020-35, DC2020-35, RECONF2020-34 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | no.234(VLD), no.235(ICD), no.236(DC), no.237(RECONF) |
| ページ範囲 | pp.24-29 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2020-11-10 (VLD, ICD, DC, RECONF) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]