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講演抄録/キーワード
講演名 2020-11-17 11:20
マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法
環 輝王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスVLD2020-15 ICD2020-35 DC2020-35 RECONF2020-34 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2020-35
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文献情報 信学技報, vol. 120, no. 236, DC2020-35, pp. 24-29, 2020年11月.
資料番号 DC2020-35 
発行日 2020-11-10 (VLD, ICD, DC, RECONF) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2020-15 ICD2020-35 DC2020-35 RECONF2020-34 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2020-35

研究会情報
研究会 VLD DC RECONF ICD IPSJ-SLDM  
開催期間 2020-11-17 - 2020-11-18 
開催地(和) オンライン開催 
開催地(英) Online 
テーマ(和) デザインガイア2020 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2020 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2020-11-VLD-DC-RECONF-ICD-SLDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Control Point Selection Approach for Scan Pattern Reduction under Multi-cycle Test 
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 環 輝 / Hikaru Tamaki / タマキ ヒカル
第1著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 王 森レイ / Senling Wang / オウ シンレイ
第2著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ
第3著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ
第4著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 岩田 浩幸 / Hiroyuki Iwata /
第5著者 所属(和/英) ルネサスエレクトロニクス (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 前田 洋一 / Yoichi Maeda / マエダ ヨウイチ
第6著者 所属(和/英) ルネサスエレクトロニクス (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 松嶋 潤 / Jun Matsushima /
第7著者 所属(和/英) ルネサスエレクトロニクス (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas)
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講演者 第1著者 
発表日時 2020-11-17 11:20:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 VLD2020-15, ICD2020-35, DC2020-35, RECONF2020-34 
巻番号(vol) vol.120 
号番号(no) no.234(VLD), no.235(ICD), no.236(DC), no.237(RECONF) 
ページ範囲 pp.24-29 
ページ数
発行日 2020-11-10 (VLD, ICD, DC, RECONF) 


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