講演抄録/キーワード |
講演名 |
2020-11-17 11:20
マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法 ○環 輝・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛(愛媛大)・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤(ルネサス エレクトロニクス) VLD2020-15 ICD2020-35 DC2020-35 RECONF2020-34 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2020-35 |
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キーワード |
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文献情報 |
信学技報, vol. 120, no. 236, DC2020-35, pp. 24-29, 2020年11月. |
資料番号 |
DC2020-35 |
発行日 |
2020-11-10 (VLD, ICD, DC, RECONF) |
ISSN |
Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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