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講演抄録/キーワード
講演名 2020-12-04 15:50
Fundamental Evaluation of Impedance Variations in the Connector Caused by High-Frequency Noise Propagation
Hiroyuki UedaShugo KajiYoungwoo KimDaisuke FujimotoNAIST)・Taiki KitazawaTakashi KasugaNIT,Nagano College))・Yuichi HayashiNAISTEMD2020-24
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
(英) As the operating frequency of information devices increases, the noise generated by the device is also becoming broadband. Propagation of the broadband noise to connectors used for the interconnection of information devices causes electromagnetic (EM) radiation and degrades the immunity of the device, which affects the EM environment. Previous reports have evaluated the degradation of the EM environment by focusing on the part where impedance mismatched caused by aging and contact failure at the contact boundary of the connector. These reports show that the propagation of high-frequency signals to the contact boundary of the mismatched connector causes an increase in unintentional EM radiation and degrades the device immunity. On the other hand, in this paper, we evaluate the possibility of the EM environment degradation caused by the noise propagation including off-standard high-frequency to connectors that have a good contact condition, by observing impacts of the parasitic components to the electrical performance of the connector.
キーワード (和) / / / / / / /  
(英) Time domain reflectometry / TDR / high-frequency noise / parasitic components / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 120, no. 275, EMD2020-24, pp. 34-38, 2020年12月.
資料番号 EMD2020-24 
発行日 2020-11-27 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMD2020-24

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2020-12-04 - 2020-12-04 
開催地(和) オンライン開催 
開催地(英) Online 
テーマ(和) 国際セッションIS-EMD2020 (継電器・コンタクトテクノロジ研究会 共催) 
テーマ(英) International Session IS-EMD2020 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2020-12-EMD 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Fundamental Evaluation of Impedance Variations in the Connector Caused by High-Frequency Noise Propagation 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) / Time domain reflectometry  
キーワード(2)(和/英) / TDR  
キーワード(3)(和/英) / high-frequency noise  
キーワード(4)(和/英) / parasitic components  
キーワード(5)(和/英) /  
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キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 上田 浩行 / Hiroyuki Ueda / ウエダ ヒロユキ
第1著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 鍛治 秀伍 / Shugo Kaji / カジ シュウゴ
第2著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) キム ヨンウ / Youngwoo Kim / キム ヨンウ
第3著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto / フジモト ダイスケ
第4著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 北澤 太基 / Taiki Kitazawa / キタザワ タイキ
第5著者 所属(和/英) 長野工業高等専門学校 (略称: 長野高専)
National Institute of Technology, Nagano College (略称: NIT,Nagano College))
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 春日 貴志 / Takashi Kasuga / カスガ タカシ
第6著者 所属(和/英) 長野工業高等専門学校 (略称: 長野高専)
National Institute of Technology, Nagano College (略称: NIT,Nagano College))
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 林 優一 / Yuichi Hayashi / ハヤシ ユウイチ
第7著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
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講演者 第1著者 
発表日時 2020-12-04 15:50:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMD 
資料番号 EMD2020-24 
巻番号(vol) vol.120 
号番号(no) no.275 
ページ範囲 pp.34-38 
ページ数
発行日 2020-11-27 (EMD) 


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