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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2021-02-05 11:35 A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch Design ○Ruijun Ma・Stefan Holst・Xiaoqing Wen（KIT）・Aibin Yan（AHU）・Hui Xu（AUST）  DC2020-71 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | As modern technology nodes become more and more susceptible to soft-errors, many radiation hardened latch designs have been proposed for reliable LSI designs. Production defects in such hardened latches are difficult to detect with conventional scan testing. In our previous work, we proposed a scan-test-aware hardened latch (STAHL) design which can tolerate soft-errors and has high defect coverage. However, STAHL has higher power and delay overhead than other hardened latches in the literature. In this paper, we propose a novel high performance and scan-test-aware hardened latch (HP-STAHL). Simulation results show that HP-STAHL provides for the first time the same benefits as STAHL in terms of soft-error tolerance and testability. HP-STAHL has lower delay and power delay product (PDP) than a standard latch, which shows that HP-STAHL has high performance. | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | soft-error / scan test / hardened latch / defect / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 120, no. 358, DC2020-71, pp. 12-17, 2021年2月. | |
| 資料番号 | DC2020-71 | |
| 発行日 | 2021-01-29 (DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2020-71 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2021-02-05 - 2021-02-05 |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2021-02-DC |
| 本文の言語 | 英語 |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch Design |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | / soft-error |
| キーワード(2)（和/英） | / scan test |
| キーワード(3)（和/英） | / hardened latch |
| キーワード(4)（和/英） | / defect |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 馬 瑞君 / Ruijun Ma / |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九州工業大学) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | シュテファン ホルスト / Stefan Holst / |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九州工業大学) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen / |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九州工業大学) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 閆 愛斌 / Aibin Yan / |
| 第4著者 所属（和/英） | 安徽大學 (略称： 安徽大) Anhui University (略称： AHU) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 徐 輝 / Hui Xu / |
| 第5著者 所属（和/英） | 安徽理工大學 (略称： 安徽理工大) Anhui University of Science & Technology (略称： AUST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2021-02-05 11:35:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2020-71 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | no.358 |
| ページ範囲 | pp.12-17 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2021-01-29 (DC) |
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