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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2021-03-26 11:20 レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法 ○土渕航平・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）  CPSY2020-62 DC2020-92 |
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| 抄録 | （和） | 近年の半導体微細化技術の進歩に伴い，超大規模集積回路において，故障解析は歩留まりの向上のために重要である．被疑故障を事前に絞り込んでおく故障診断は，故障解析の重要なステップであり，故障解析コストの低減のために重要である．被疑故障数削減のためにゲートレベルやレイアウトレベルにおけるテストポイント挿入などの診断容易化設計が提案されているが，面積オーバーヘッドやタイミングの最適性の損失という課題が発生する．本論文では，レジスタ転送レベルにおける診断容易化設計手法を提案する．診断容易性のためのコントローラの各状態遷移における制御信号のドントケア割当て問題を疑似ブール最適化問題として定式化する． |
| （英） | With the progress of semiconductor technology in recent years, fault analysis is important to improve the yield of VLSIs. Fault diagnosis, which narrows down suspected faults in advance, is an important step in fault analysis and is important to reduce the cost of fault analysis. To reduce the number of suspected faults, design-for-diagnosability methods such as test point insertion at gate level and layout level have been proposed. However, the design-for-diagnosability methods cause problems such as area overhead and destroy of timing optimization. In this paper, we propose a design-for-diagnosability method at register transfer level. Don't care filling problem of control signals on each state transition of controllers for fault diagnosability is formulated as a pseudo-Boolean optimization problem. | |
| キーワード | （和） | 故障診断 / ドントケア割当て / レジスタ転送レベル / 疑似ブール最適化問題 / 診断容易化設計 / / / |
| （英） | fault diagnosis / don’t-care filling / register transfer level / pseudo Boolean optimization / design-for-diagnosability / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 120, no. 436, DC2020-92, pp. 73-78, 2021年3月. | |
| 資料番号 | DC2020-92 | |
| 発行日 | 2021-03-18 (CPSY, DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPSY2020-62 DC2020-92 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY DC IPSJ-SLDM IPSJ-EMB IPSJ-ARC |
| 開催期間 | 2021-03-25 - 2021-03-26 |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | 組込み技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2021 |
| テーマ（英） | ETNET2021 |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2021-03-CPSY-DC-SLDM-EMB-ARC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Don't Care Filling Method of Control Signals for Controllers to Enhance Fault Diagnosability at Register Transfer Level |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障診断 / fault diagnosis |
| キーワード(2)（和/英） | ドントケア割当て / don’t-care filling |
| キーワード(3)（和/英） | レジスタ転送レベル / register transfer level |
| キーワード(4)（和/英） | 疑似ブール最適化問題 / pseudo Boolean optimization |
| キーワード(5)（和/英） | 診断容易化設計 / design-for-diagnosability |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 土渕 航平 / Kohei Tsuchibuchi / ツチブチ コウヘイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山崎 浩二 / Koji Yamazaki / ヤマザキ コウジ |
| 第3著者 所属（和/英） | 明治大学 (略称： 明大) Meiji University (略称： Meiji Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2021-03-26 11:20:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | CPSY2020-62, DC2020-92 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | no.435(CPSY), no.436(DC) |
| ページ範囲 | pp.73-78 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2021-03-18 (CPSY, DC) |
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