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講演抄録/キーワード |
講演名 |
2021-05-28 13:00
[招待講演]車載システム向けのテスト容易化設計法 ○高橋 寛(愛媛大) |
抄録 |
(和) |
先進自動運転のための車載コンピュータにおいては機能安全規格に基づくテストが必要である.新しいテスト環境であるフィールドにおけるパワーオンセルフテストでは,短いテスト時間で90%以上の単一縮退故障の検出率を達成しなければならない.そのためには,製造テストにおける組込み自己テストを直接適用できない.本研究では, パワーオンセルフテストのマルチサイクルテスト向けの テスト容易化設計法を提案する.マルチサイクルテストにおける「故障影響の消失問題」および「キャプチャパターンの検出能力低下問題」に対するテスト容易化設計法を提案する. |
(英) |
(Not available yet) |
キーワード |
(和) |
テスト容易化設計 / 組込み自己テスト / マルチサイクルテスト / / / / / |
(英) |
DFT / BIST / / / / / / |
文献情報 |
信学技報 |
資料番号 |
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発行日 |
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ISSN |
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PDFダウンロード |
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研究会情報 |
研究会 |
R |
開催期間 |
2021-05-28 - 2021-05-28 |
開催地(和) |
オンライン開催 |
開催地(英) |
Online |
テーマ(和) |
ソフトウェアの信頼性,信頼性一般 |
テーマ(英) |
Software Reliability, Reliability General |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
R |
会議コード |
2021-05-R |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
車載システム向けのテスト容易化設計法 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Design for Testability for the Automotive Systems |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
テスト容易化設計 / DFT |
キーワード(2)(和/英) |
組込み自己テスト / BIST |
キーワード(3)(和/英) |
マルチサイクルテスト / |
キーワード(4)(和/英) |
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キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ |
第1著者 所属(和/英) |
愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 所属(和/英) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2021-05-28 13:00:00 |
発表時間 |
60分 |
申込先研究会 |
R |
資料番号 |
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巻番号(vol) |
vol.121 |
号番号(no) |
no.47 |
ページ範囲 |
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ページ数 |
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発行日 |
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