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講演抄録/キーワード
講演名 2021-05-28 13:00
[招待講演]車載システム向けのテスト容易化設計法
高橋 寛愛媛大
抄録 (和) 先進自動運転のための車載コンピュータにおいては機能安全規格に基づくテストが必要である.新しいテスト環境であるフィールドにおけるパワーオンセルフテストでは,短いテスト時間で90%以上の単一縮退故障の検出率を達成しなければならない.そのためには,製造テストにおける組込み自己テストを直接適用できない.本研究では, パワーオンセルフテストのマルチサイクルテスト向けの テスト容易化設計法を提案する.マルチサイクルテストにおける「故障影響の消失問題」および「キャプチャパターンの検出能力低下問題」に対するテスト容易化設計法を提案する. 
(英) (Available after conference date)
キーワード (和) テスト容易化設計 / 組込み自己テスト / マルチサイクルテスト / / / / /  
(英) DFT / BIST / / / / / /  
文献情報 信学技報
資料番号  
発行日  
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
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研究会情報
研究会 R  
開催期間 2021-05-28 - 2021-05-28 
開催地(和) オンライン開催 
開催地(英) Online 
テーマ(和) ソフトウェアの信頼性,信頼性一般 
テーマ(英) Software Reliability, Reliability General 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 R 
会議コード 2021-05-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 車載システム向けのテスト容易化設計法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Design for Testability for the Automotive Systems 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) テスト容易化設計 / DFT  
キーワード(2)(和/英) 組込み自己テスト / BIST  
キーワード(3)(和/英) マルチサイクルテスト /  
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キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ
第1著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2021-05-28 13:00:00 
発表時間 60分 
申込先研究会 R 
資料番号  
巻番号(vol) vol.121 
号番号(no) no.47 
ページ範囲  
ページ数  
発行日  


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