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講演抄録/キーワード
講演名
2021-05-28 13:00
[招待講演]車載システム向けのテスト容易化設計法
○
高橋 寛
(
愛媛大
)
抄録
(和)
先進自動運転のための車載コンピュータにおいては機能安全規格に基づくテストが必要である.新しいテスト環境であるフィールドにおけるパワーオンセルフテストでは,短いテスト時間で90%以上の単一縮退故障の検出率を達成しなければならない.そのためには,製造テストにおける組込み自己テストを直接適用できない.本研究では, パワーオンセルフテストのマルチサイクルテスト向けの テスト容易化設計法を提案する.マルチサイクルテストにおける「故障影響の消失問題」および「キャプチャパターンの検出能力低下問題」に対するテスト容易化設計法を提案する.
(英)
(Not available yet)
キーワード
(和)
テスト容易化設計
/
組込み自己テスト
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マルチサイクルテスト
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(英)
DFT
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BIST
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文献情報
信学技報
資料番号
発行日
ISSN
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研究会情報
研究会
R
開催期間
2021-05-28 - 2021-05-28
開催地(和)
オンライン開催
開催地(英)
Online
テーマ(和)
ソフトウェアの信頼性,信頼性一般
テーマ(英)
Software Reliability, Reliability General
講演論文情報の詳細
申込み研究会
R
会議コード
2021-05-R
本文の言語
日本語
タイトル(和)
車載システム向けのテスト容易化設計法
サブタイトル(和)
タイトル(英)
Design for Testability for the Automotive Systems
サブタイトル(英)
キーワード(1)(和/英)
テスト容易化設計
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DFT
キーワード(2)(和/英)
組込み自己テスト
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BIST
キーワード(3)(和/英)
マルチサイクルテスト
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キーワード(4)(和/英)
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キーワード(8)(和/英)
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ)
高橋 寛
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Hiroshi Takahashi
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タカハシ ヒロシ
第1著者 所属(和/英)
愛媛大学
(略称:
愛媛大
)
Ehime University
(略称:
Ehime Univ.
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第2著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第3著者 氏名(和/英/ヨミ)
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講演者
第1著者
発表日時
2021-05-28 13:00:00
発表時間
60分
申込先研究会
R
資料番号
巻番号(vol)
vol.121
号番号(no)
no.47
ページ範囲
ページ数
発行日
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