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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2021-10-11 16:00 DICEの相補性に基づくエッジトリガ型D-FF ○松浦徳己・難波一輝（千葉大）  CPSY2021-15 DC2021-15 |
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| 抄録 | （和） | 近年のVLSI(Very Large Scale IC)は微細化，高集積化，動作電圧の低下に伴いソフトエラーの発生確率が増加しており，地上レベルにおいても問題となっている．ソフトエラーとは回路に発生する一時的故障であり，放射線中に含まれる中性子線やα粒子に起因する．これらの放射線がVLSIに衝突すると過渡電流が生じ，臨界電荷量を超えると値の反転を引き起こすため問題となっている．現在までに様々な耐ソフトエラー技術が提案されているが，Dラッチ製造の容易性からマスタースレーブ型D-FFが主流であるため，提案されている耐ソフトエラー設計もラッチ単位であることが多い．そこで本稿では，DICEの相補性をエッジトリガ型D-FFに適用した構造を提案し，DICEを用いたマスタースレーブ型D-FFとの比較を行った．その結果，提案回路はソフトエラー耐性を持ち，消費電力，セットアップ時間において有用であることを示す． |
| （英） | In recent years, the probability of soft errors has been increasing due to the miniaturization, high integration, and low operating voltage of VLSI, and this has become a problem at the ground level. Soft errors are temporary failures that occur in circuits and are caused by neutrons and alpha particles contained in radiation. The soft errors are caused by neutrons and α-particles in the radiation, and are a problem because transient currents are generated when the radiation hits the VLSI, causing a value reversal when the critical charge level is exceeded. To date, various soft-error tolerance techniques have been proposed, but since master-slave D-FFs are the mainstream due to the ease of D-latch fabrication, the proposed soft-error tolerance designs are often latch-based. In this paper, we propose a structure that applies the complementarity of the DICE to edge-triggered D-FFs, and compare it with master-slave D-FFs using the DICE. The results show that the proposed circuit is useful in terms of soft error tolerance, power consumption, and setup time. | |
| キーワード | （和） | ソフトエラー / エッジトリガ型D-FF / DICE(Dual Interlocked Storage Cell) / / / / / |
| （英） | Soft error / Edge-triggered D-FF / DICE(Dual Interlocked Storage Cell) / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 121, no. 195, DC2021-15, pp. 19-24, 2021年10月. | |
| 資料番号 | DC2021-15 | |
| 発行日 | 2021-10-04 (CPSY, DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPSY2021-15 DC2021-15 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC CPSY IPSJ-ARC |
| 開催期間 | 2021-10-11 - 2021-10-12 |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | HotSPA2021: アーキテクチャ，コンピュータシステム，ディペンダブルコンピューティングおよび一般 |
| テーマ（英） | Architecture, Computer Systems, Dependable Computing, etc. (HotSPA202１) |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2021-10-DC-CPSY-ARC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | DICEの相補性に基づくエッジトリガ型D-FF |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Edge triggered D Flip-Flop using complementarity of DICE |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトエラー / Soft error |
| キーワード(2)（和/英） | エッジトリガ型D-FF / Edge-triggered D-FF |
| キーワード(3)（和/英） | DICE(Dual Interlocked Storage Cell) / DICE(Dual Interlocked Storage Cell) |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松浦 徳己 / Noriki Matsuura / マツウラ ノリキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 千葉大学 (略称： 千葉大) Chiba University (略称： Chiba Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 難波 一輝 / Kazuteru Namba / ナンバ カズテル |
| 第2著者 所属（和/英） | 千葉大学 (略称： 千葉大) Chiba University (略称： Chiba Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2021-10-11 16:00:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | CPSY2021-15, DC2021-15 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | no.194(CPSY), no.195(DC) |
| ページ範囲 | pp.19-24 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2021-10-04 (CPSY, DC) |
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