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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2021-11-12 17:10 機械学習を用いた極微細MOSFETの電気特性およびパラメータの推定 ○赤澤光平・中西唯吾・鈴木悠平・鎌倉良成（阪工大）  SDM2021-67 |
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| 抄録 | （和） | 機械学習を用いたMOSFETのSPICEパラメータ推定手法について検討を行った．BSIM4で用いられるパラメータをランダムに変化させて求めたI-V特性を2次元画像データとみなし，これを入力とする畳み込みオートエンコーダモデルを構築したところ，単純な重回帰分析を上回る推論性能が得られた．オートエンコーダに備わる次元削減の効果により，過学習が抑制されたことがその要因として考えられる． |
| （英） | A machine learning method to extract SPICE model parameters is discussed. The data set is obtained from SPICE simulation by varying the parameters for BSIM4 MOSFET model. The model based on the convolutional autoencoder (CAE) is used to predict the SPICE parameters from the input image (i.e., MOSFET I-V characteristics), which shows a better performance compared to the linear regression model due to its ability to reduce overfitting. | |
| キーワード | （和） | 機械学習 / SPICEパラメータ抽出 / MOSFET / オートエンコーダ / / / / |
| （英） | machine learning / SPICE parameter extraction / MOSFET / autoencoder / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 121, no. 235, SDM2021-67, pp. 77-80, 2021年11月. | |
| 資料番号 | SDM2021-67 | |
| 発行日 | 2021-11-04 (SDM) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SDM2021-67 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SDM |
| 開催期間 | 2021-11-11 - 2021-11-12 |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | プロセス・デバイス・回路シミュレーションおよび一般 |
| テーマ（英） | Process, Device, Circuit simulation, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SDM |
| 会議コード | 2021-11-SDM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 機械学習を用いた極微細MOSFETの電気特性およびパラメータの推定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Inference of MOSFET Characteristics and Parameters with Machine Learning |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 機械学習 / machine learning |
| キーワード(2)（和/英） | SPICEパラメータ抽出 / SPICE parameter extraction |
| キーワード(3)（和/英） | MOSFET / MOSFET |
| キーワード(4)（和/英） | オートエンコーダ / autoencoder |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 赤澤 光平 / Kohei Akazawa / アカザワ コウヘイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 大阪工業大学大学院 (略称： 阪工大) Osaka Institute of Technology (略称： Osaka Inst. Technol.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中西 唯吾 / Yuigo Nakanishi / ナカニシ ユイゴ |
| 第2著者 所属（和/英） | 大阪工業大学 (略称： 阪工大) Osaka Institute of Technology (略称： Osaka Inst. Technol.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 鈴木 悠平 / Yuhei Suzuki / スズキ ユウヘイ |
| 第3著者 所属（和/英） | 大阪工業大学大学院 (略称： 阪工大) Osaka Institute of Technology (略称： Osaka Inst. Technol.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 鎌倉 良成 / Yoshinari Kamakura / カマクラ ヨシナリ |
| 第4著者 所属（和/英） | 大阪工業大学 (略称： 阪工大) Osaka Institute of Technology (略称： Osaka Inst. Technol.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2021-11-12 17:10:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | SDM |
| 資料番号 | SDM2021-67 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | no.235 |
| ページ範囲 | pp.77-80 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2021-11-04 (SDM) |
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