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講演抄録/キーワード
講演名 2021-11-30 14:50
フォールト発見数モデルに基づいた安全関連系ソフトウェアの安全度解析
井上真二関西大)・藤原隆次SRATECH Lab.)・山田 茂鳥取大R2021-38
抄録 (和) 電気・電子・プログラマブル電子(E/E/PE)安全関連系は,機能的側面からシステム全体の安全性を確保するような機能安全を担うシステムとして,近年,様々な産業界で利用されている.その中で,国際基本機能安全規格として知られているIEC 61508では,安全度水準(SIL)に基づいたE/E/PE安全関連系に対する安全性評価が求められている.特に,E/E/PE安全関連系のハードウェアについては,いわゆるランダムハードウェア故障を前提に,SILに基づいた定量的な安全性評価に関する基本的枠組みが与えられている.一方,ソフトウェアについては,安全性を阻害するソフトウェア故障を決定論的原因故障として捉え,定性的な枠組みのみが与えられている.本稿では,E/E/PE安全関連系のソフトウェアに関してSILに基づいたより客観的な安全性評価の実現を目的として,フォールト発見数モデルによるソフトウェア信頼性評価技術を活用しながら,SILを割り当てるための目標機能失敗尺度を近似的に算出するための数理的アプローチについて考察を与える.また,数値例を示し,議論したアプローチの適用方法についても議論する. 
(英) IEC 61508 is widely known as the international standard for the functional safety of electrical/electronic/programmable electronic (E/E/PE) safety-related systems. Especially for the hardware of E/E/PE safety-related systems, IEC 61508 requires to assess their safety based on the safety integrity level (SIL) measured by the target failure measures. However, IEC 61508 does not give us the methodologies on quantitative safety assessment for the E/E/PE safety-related system software because the software failure is treated as a systematic failure. We discuss approximated methods for estimating target failure measures, which are basic measures for allocating SIL, for SIL-based software safety assessment by applying the technical notions of software fault detection count model in software reliability assessment technologies.
キーワード (和) 機能安全 / E/E/PE安全関連系 / IEC 61508 / 安全度水準 / ソフトウェア信頼性モデル / フォールト発見数モデル / /  
(英) Functional safety / E/E/PE safety-related systems / IEC 61508 / safety integrity level / software reliability model / fault detection model / /  
文献情報 信学技報, vol. 121, no. 276, R2021-38, pp. 24-29, 2021年11月.
資料番号 R2021-38 
発行日 2021-11-23 (R) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード R2021-38

研究会情報
研究会 R  
開催期間 2021-11-30 - 2021-11-30 
開催地(和) オンライン開催 
開催地(英) Online 
テーマ(和) 半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 
テーマ(英) Reliability of semiconductor and electronic devices, Reliability ge 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 R 
会議コード 2021-11-R 
本文の言語 英語(日本語タイトルあり) 
タイトル(和) フォールト発見数モデルに基づいた安全関連系ソフトウェアの安全度解析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Safety Analysis for Safety-Related Software Based on a Fault Detection Count Model 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 機能安全 / Functional safety  
キーワード(2)(和/英) E/E/PE安全関連系 / E/E/PE safety-related systems  
キーワード(3)(和/英) IEC 61508 / IEC 61508  
キーワード(4)(和/英) 安全度水準 / safety integrity level  
キーワード(5)(和/英) ソフトウェア信頼性モデル / software reliability model  
キーワード(6)(和/英) フォールト発見数モデル / fault detection model  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 井上 真二 / Shinji Inoue / イノウエ シンジ
第1著者 所属(和/英) 関西大学 (略称: 関西大)
Kansai University (略称: Kansai Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤原 隆次 / Takaji Fujiwara / フジワラ タカジ
第2著者 所属(和/英) SRATECH Lab株式会社 (略称: SRATECH Lab.)
SRATECH Lab. Inc. (略称: SRATECH Lab.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 山田 茂 / Shigeru Yamada / ヤマダ シゲル
第3著者 所属(和/英) 鳥取大学 (略称: 鳥取大)
Tottori University (略称: Tottori Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2021-11-30 14:50:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 R 
資料番号 R2021-38 
巻番号(vol) vol.121 
号番号(no) no.276 
ページ範囲 pp.24-29 
ページ数
発行日 2021-11-23 (R) 


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