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講演抄録/キーワード
講演名 2021-11-30 13:50
小規模回路でバースト誤りと離散誤りに対応する拡張誤り訂正符号
三木淳司富士通R2021-36
抄録 (和) データセンタやスーパーコンピュータは構成規模が極めて巨大であるので、アプリケーションを安定に実行するためには、単一部品換算で数十年間無故障に相当するほどの高い信頼性が求められる。実機で特に多い故障の一つはトランジスタ特性劣化や放射線影響によりメモリ内のデータ破損が発生するタイプの故障で、この影響を防ぐためにメモリには誤り訂正技術が適用されている。一般的にメモリの誤り訂正能力の強化は回路規模の増加とデータアクセスレイテンシの増加を招くため、低面積かつ低レイテンシでより多種のエラーを訂正できることが重要である。本稿では、サーバ運用の中で非常に多く見られるエラーパタンである①1バイト内で複数ビットエラーするバースト誤り、②異なる2バイトで1ビットずつエラーする離散誤りという2種のエラーに対し、バースト誤りに耐性を持つ1バイト訂正リードソロモン符号をベースとして回路規模やレイテンシへの影響を最小限に抑えて訂正する符号を提案し、その回路規模やレイテンシおよび訂正能力について評価を行う。 
(英) Data centers and supercomputers have large configurations. Each unit in the system requires extremely high reliability which is equivalent to several decades of stability to complete applications stably. One of the most common failures in the system is a type of failure in which data error in the memory due to degradation of transistor characteristics or radiation effects, and error correction technology is applied to the memory to prevent such defects. Since the enhancement of the error correction capability of the memory causes an increase in the circuit scale and the data access latency. Therefore, it is desired to correct a wide variety of errors with a low area and low latency. In this paper, we propose an extension code based on 1-byte correction Reed-Solomon codes that are resistant to burst errors. The extension code minimizes the impact on circuit size and latency. And it has correction capability against two types of errors: 1) burst errors that result in multi-bit errors within 1 byte and 2) discrete errors that result in 1-bit errors within two different bytes, which are common error patterns in field service operations. We evaluate its circuit size, latency, and correction capability.
キーワード (和) 誤り訂正符号 / 誤り傾向 / 合成符号 / / / / /  
(英) error correction code / error tendency / composite code / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 121, no. 276, R2021-36, pp. 13-18, 2021年11月.
資料番号 R2021-36 
発行日 2021-11-23 (R) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード R2021-36

研究会情報
研究会 R  
開催期間 2021-11-30 - 2021-11-30 
開催地(和) オンライン開催 
開催地(英) Online 
テーマ(和) 半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 
テーマ(英) Reliability of semiconductor and electronic devices, Reliability ge 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 R 
会議コード 2021-11-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 小規模回路でバースト誤りと離散誤りに対応する拡張誤り訂正符号 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Extended Error Correction Codes for Burst Errors and Discrete Errors in Small-Scale Circuits 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 誤り訂正符号 / error correction code  
キーワード(2)(和/英) 誤り傾向 / error tendency  
キーワード(3)(和/英) 合成符号 / composite code  
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キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 三木 淳司 / Atsushi Miki / ミキ アツシ
第1著者 所属(和/英) 富士通株式会社 (略称: 富士通)
Fujitsu Limited (略称: Fujitsu)
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講演者 第1著者 
発表日時 2021-11-30 13:50:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 R 
資料番号 R2021-36 
巻番号(vol) vol.121 
号番号(no) no.276 
ページ範囲 pp.13-18 
ページ数
発行日 2021-11-23 (R) 


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