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講演抄録/キーワード
講演名 2021-12-10 14:00
レジスタ転送レベルにおけるSAT攻撃とFALL攻撃に耐性のある論理暗号化手法
辻川敦也細川利典日大)・吉村正義京都産大DC2021-57
抄録 (和) 近年,大規模化に伴いVLSIを設計会社1社のみで設計を行うのが困難になり,IPベンダよりIPコアを購入し必要な部分のみを設計する手法を用いている.一方,IPコアは著作権侵害を容易に行えるという欠点を持つため,論理暗号化を施す必要がある.しかしながら,機能的論理暗号化手法TTLockはSAT攻撃には耐性があるが,FALL攻撃に脆弱である.また,ゲートレベルでTTLockに基づいて論理暗号化を施すのは困難である.それゆえ,本論文ではレジスタ転送レベルにおいてSAT攻撃とFALL攻撃に耐性のある論理暗号化手法を提案する. 
(英) In recent years, to meet strict time-to-market constraints, it has become difficult for only one semiconductor design company to design a VLSI. Thus, design companies purchase IP cores from third-party IP vendors and design only the necessary parts. On the other hand, since IP cores have the disadvantage that copyright infringement can be easily performed, logic locking has to applied to them. However, functional logic locking method using TTLock are resilient to SAT attack, however vulnerable to FALL attacks. Additionally, it is difficult to design logic locking based on TTLock at gate level. In this paper, we propose a logic locking method based on SAT attack and FALL attacks resistance at register transfer level.
キーワード (和) 論理暗号化 / レジスタ転送レベル / TTLock / SAT攻撃 / FALL攻撃 / セキュア設計 / /  
(英) Logic Locking / Register Transfer Level / TTLock / SAT Attack / FALL Attacks / Design for Security / /  
文献情報 信学技報, vol. 121, no. 293, DC2021-57, pp. 13-18, 2021年12月.
資料番号 DC2021-57 
発行日 2021-12-03 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2021-57

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2021-12-10 - 2021-12-10 
開催地(和) 国民宿舎小豆島(ふるさと荘交流センター) 
開催地(英)  
テーマ(和) (第6回) Winter Workshop on Safety(安全性に関する冬のワークショップ) - (共催:日本信頼性学会) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2021-12-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) レジスタ転送レベルにおけるSAT攻撃とFALL攻撃に耐性のある論理暗号化手法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A SAT and FALL Attacks Resistant Logic Locking Method at Register Transfer Level 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 論理暗号化 / Logic Locking  
キーワード(2)(和/英) レジスタ転送レベル / Register Transfer Level  
キーワード(3)(和/英) TTLock / TTLock  
キーワード(4)(和/英) SAT攻撃 / SAT Attack  
キーワード(5)(和/英) FALL攻撃 / FALL Attacks  
キーワード(6)(和/英) セキュア設計 / Design for Security  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 辻川 敦也 / Atsuya Tsujikawa / ツジカワ アツヤ
第1著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ
第2著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ
第3著者 所属(和/英) 京都産業大学 (略称: 京都産大)
Kyoto Sangyo University (略称: Kyoto Sangyo Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2021-12-10 14:00:00 
発表時間 20分 
申込先研究会 DC 
資料番号 DC2021-57 
巻番号(vol) vol.121 
号番号(no) no.293 
ページ範囲 pp.13-18 
ページ数
発行日 2021-12-03 (DC) 


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