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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2022-03-10 10:50 故障活性化率に基づく診断分解能向上指向テスト生成法 ○千田祐弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）  CPSY2021-57 DC2021-91 |
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| 抄録 | （和） | 高い欠陥検出率を達成するテスト生成法の１つとして，n回検出テスト生成法が提案されている．さらに，テスト品質尺度として故障活性化率が提案され，故障活性化率を向上させるために故障箇所からできるだけ多数の信号線を伝搬するようなn回検出テスト生成が提案された．その実験結果より，故障活性化率の高いテスト集合は様々な故障モデルにおいて高い故障検出率を達成することが示されている．しかしながら，その故障活性化率に基づくテスト生成手法において，故障伝搬経路の選択に用いている各故障に対するパスグラフは故障箇所から到達可能な外部出力までの未活性化パスセグメント数を保持しているため，必要メモリが膨大になり大規模回路への適用が困難であるという問題がある．本論文では，故障伝搬経路の選択に必要なメモリを削減し，大規模回路に適用可能な故障活性化率に基づくテスト生成法を提案し，そのテスト品質と診断分解能を評価する． |
| （英） | As one of test generation methods to achieve high defect coverage, n-detection test generation methods have been proposed. Moreover, fault sensitization coverage was proposed as a measure of test quality, and an n-detection test generation method to improve fault sensitization coverage. In the test generation method, test patterns are generated such that target faults are propagated to as many signal lines as possible. The experimental results showed that test sets with high fault sensitization coverage achieved the high fault coverage for various fault models. In the test generation method based on fault sensitization coverage, the path graph for each fault used to select fault propagation paths holds the number of unsensitized path segments from the failure location to the reachable primary outputs. Therefore, there is a problem that the required memory becomes enormous and it is difficult to apply it to large circuits. In this paper, we propose a test generation method based on fault sensitization coverage that can be applied to large circuits by reducing the memory required for the selection of fault propagation paths, and evaluate the test quality and the diagnosis resolution. | |
| キーワード | （和） | テスト生成 / 故障診断 / 故障活性化率 / パスセグメント / / / / |
| （英） | test generation / fault diagnosis / fault sensitization coverage / path segments / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 121, no. 426, DC2021-91, pp. 73-78, 2022年3月. | |
| 資料番号 | DC2021-91 | |
| 発行日 | 2022-03-03 (CPSY, DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPSY2021-57 DC2021-91 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY DC IPSJ-SLDM IPSJ-EMB IPSJ-ARC |
| 開催期間 | 2022-03-10 - 2022-03-11 |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | 組込み技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2022 |
| テーマ（英） | ETNET2021 |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2022-03-CPSY-DC-SLDM-EMB-ARC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 故障活性化率に基づく診断分解能向上指向テスト生成法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Test Generatoin Method to Improve Diagonostic Resolution Based on Fault Sensitization Coverage |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | テスト生成 / test generation |
| キーワード(2)（和/英） | 故障診断 / fault diagnosis |
| キーワード(3)（和/英） | 故障活性化率 / fault sensitization coverage |
| キーワード(4)（和/英） | パスセグメント / path segments |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 千田 祐弥 / Yuya Chida / チダ ユウヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University. (略称： Nihon Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソワカ トシノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University. (略称： Nihon Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山崎 浩二 / Koji Yamazaki / ヤマザキ コウジ |
| 第3著者 所属（和/英） | 明治大学 (略称： 明大) Meiji University. (略称： Meiji Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2022-03-10 10:50:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | CPSY2021-57, DC2021-91 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | no.425(CPSY), no.426(DC) |
| ページ範囲 | pp.73-78 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2022-03-03 (CPSY, DC) |
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