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講演抄録/キーワード
講演名 2022-08-25 14:45
光ファイバによるファブリ・ペロー干渉計を用いた微小変位検出に関する研究(2)
森 優也青木瑠星深堀武琉長瀬 亮千葉工大R2022-18 EMD2022-6 CPM2022-23 OPE2022-49 LQE2022-12
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文献情報 信学技報, vol. 122, no. 157, EMD2022-6, pp. 13-16, 2022年8月.
資料番号 EMD2022-6 
発行日 2022-08-18 (R, EMD, CPM, OPE, LQE) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード R2022-18 EMD2022-6 CPM2022-23 OPE2022-49 LQE2022-12

研究会情報
研究会 EMD R LQE OPE CPM  
開催期間 2022-08-25 - 2022-08-26 
開催地(和) 千葉工業大学津田沼キャンパス + オンライン開催 
開催地(英)  
テーマ(和) 受光素子,変調器,光部品・電子デバイス実装・信頼性,及び一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2022-08-EMD-R-LQE-OPE-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 光ファイバによるファブリ・ペロー干渉計を用いた微小変位検出に関する研究(2) 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Study on micro displacement sensing technique using Fabry-Perot interferometer with optical fibers(2) 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 森 優也 / Yuya Mori / モリ ユウヤ
第1著者 所属(和/英) 千葉工業大学 (略称: 千葉工大)
Chiba Institute of Technology (略称: CIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 青木 瑠星 / Ryusei Aoki / アオキ リュウセイ
第2著者 所属(和/英) 千葉工業大学 (略称: 千葉工大)
Chiba Institute of Technology (略称: CIT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 深堀 武琉 / Takeru Hukahori / フカホリ タケル
第3著者 所属(和/英) 千葉工業大学 (略称: 千葉工大)
Chiba Institute of Technology (略称: CIT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 長瀬 亮 / Ryo Nagase / ナガセ リョウ
第4著者 所属(和/英) 千葉工業大学 (略称: 千葉工大)
Chiba Institute of Technology (略称: CIT)
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講演者 第1著者 
発表日時 2022-08-25 14:45:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMD 
資料番号 R2022-18, EMD2022-6, CPM2022-23, OPE2022-49, LQE2022-12 
巻番号(vol) vol.122 
号番号(no) no.156(R), no.157(EMD), no.158(CPM), no.159(OPE), no.160(LQE) 
ページ範囲 pp.13-16 
ページ数
発行日 2022-08-18 (R, EMD, CPM, OPE, LQE) 


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