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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2022-10-12 14:00 並列テストのためのコントローラの制御信号のドントケア割当てアルゴリズム ○徐 浩豊・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）  CPSY2022-24 DC2022-24 |
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| 抄録 | （和） | 近年，VLSIのテストコスト増大に伴い，テストパターン数の削減が重要になっている．そのため，テスト並列化を考慮したテスト容易化設計を適用することが重要である．データパス中のハードウェア要素の並列テストを最適化するために，レジスタ転送レベルでのコントローラの制御信号のドントケア(X)の論理値割当て問題を疑似ブール最適化(Pseudo Boolean Optimization：PBO)問題として定式化する手法が提案されている．小規模な高位合成ベンチマーク回路に対しては，テストパターン数が削減されていることが示されている．しかしながら，制御信号中のX数が増大すると，現実的な時間で解を得ることは困難である．本論文では，必要なテストパターン数が支配的である演算器の並列テストに着目し，できる限り多数の演算器の並列テストを実行可能で，かつできる限りテストに使用する状態遷移数を削減するヒューリスティックアルゴリズムを提案する． |
| （英） | In recent years, with the increase in test cost for VLSIs, it has been important to reduce the number of test patterns. Test compaction methods have been proposed to reduce the number of test patterns. Therefore, it is important to apply design-for-testability considering concurrent testing. A method such that a logic value assignment problem of don't cares (X) for controllers at register transfer level was formulated as pseudo-Boolean optimization problem to optimize concurrent testing for hardware elements in data-paths was proposed. The method showed that the number of test patterns was reduced for small high-level synthesis benchmark circuits. However, as the number of Xs in the control signal increases, it is difficult to obtain a solution in reasonable time. In this paper, we focus on concurrent testing of operational units whose number of required test patterns is dominant, and propose a heuristic algorithm that can perform concurrent testing of as many operational units as possible and reduce the number of state transitions used for testing as much as possible. | |
| キーワード | （和） | 制御信号 / ドントケア割当て / 並列テスト / データパス / ヒューリスティックアルゴリズム / / / |
| （英） | control signals / don't care filling / concurrent testing / data-paths / heuristic algorithm / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 122, no. 205, DC2022-24, pp. 37-42, 2022年10月. | |
| 資料番号 | DC2022-24 | |
| 発行日 | 2022-10-04 (CPSY, DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPSY2022-24 DC2022-24 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY DC IPSJ-ARC |
| 開催期間 | 2022-10-11 - 2022-10-12 |
| 開催地（和） | 湯沢東映ホテル |
| 開催地（英） | Yuzawa Toei Hotel |
| テーマ（和） | HotSPA2022: アーキテクチャ, コンピュータシステム, ディペンダブルコンピューティング および一般 |
| テーマ（英） | System Architecture, Computer Systems, Dependable Computing, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2022-10-CPSY-DC-ARC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 並列テストのためのコントローラの制御信号のドントケア割当てアルゴリズム |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Don't Care Filling Algorithm of Control Signals for Concurrent Testing |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 制御信号 / control signals |
| キーワード(2)（和/英） | ドントケア割当て / don't care filling |
| キーワード(3)（和/英） | 並列テスト / concurrent testing |
| キーワード(4)（和/英） | データパス / data-paths |
| キーワード(5)（和/英） | ヒューリスティックアルゴリズム / heuristic algorithm |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 徐 浩豊 / Xu Haofeng / ジョ コウホウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Hosokawa Toshinori / ホソカワ トシノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉村 正義 / Yoshimura Masayoshi / ヨシムラ マサヨシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 京都産業大学 (略称： 京都産大) Kyoto Sangyo University (略称： KSU) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 新井 雅之 / Arai Masayuki / アライ マサユキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2022-10-12 14:00:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | CPSY2022-24, DC2022-24 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | no.204(CPSY), no.205(DC) |
| ページ範囲 | pp.37-42 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2022-10-04 (CPSY, DC) |
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