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講演抄録/キーワード
講演名 2022-10-14 09:50
意図的な電磁妨害により生ずる情報漏えいのモデル化に向けた評価環境の構築
高野誠也鍛治秀伍奈良先端大)・衣川昌宏福知山公立大)・藤本大介林 優一奈良先端大EMCJ2022-53 MW2022-99 EST2022-63
抄録 (和) 意図的な電磁妨害時に生じる電磁放射によって機器内部の情報が漏えいする脅威が報告されている。これまで、漏えいを引き起こす要素の1つであるデジタルICの入力インピーダンスの周波数特性に着目した漏えい周波数の推定手法が提案されてきたが、適用範囲が出力状態を制御可能なICに限られていた。そこで本稿では、出力状態の制御が困難なICの入力インピーダンスの変化を計測可能な評価環境を構築した。実験では、2種類のD級オーディオアンプICを対象とし、出力状態に応じた入力インピーダンスの変化を評価した。 
(英) The threats of electromagnetic (EM) information leakage induced by low-power intentional EM interference have been reported. A leakage frequency estimation method has been proposed, focusing on the frequency characteristic of the digital IC's input impedance, which is one of the factors inducing EM information leakage. However, the method only applies to the IC that output states are controllable. This paper shows an evaluation system that can measure changes in the input impedance of ICs, which is difficult to control the output states. In the experiment, two types of D-class audio amplifier ICs were targeted, and we measured the input impedance changes according to the output states.
キーワード (和) 電磁情報漏えい / TEMPEST / IEMI / / / / /  
(英) EM Information Leakage / TEMPEST / IEMI / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 122, no. 206, EMCJ2022-53, pp. 93-96, 2022年10月.
資料番号 EMCJ2022-53 
発行日 2022-10-06 (EMCJ, MW, EST) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMCJ2022-53 MW2022-99 EST2022-63

研究会情報
研究会 EMCJ MW EST IEE-EMC  
開催期間 2022-10-13 - 2022-10-14 
開催地(和) 秋田大学 
開催地(英) Akita University 
テーマ(和) マイクロ波/電磁界シミュレーション/EMC一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMCJ 
会議コード 2022-10-EMCJ-MW-EST-EMC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 意図的な電磁妨害により生ずる情報漏えいのモデル化に向けた評価環境の構築 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Development of an Evaluation System for Modeling of Information Leakage Induced by Low-Power IEMI 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 電磁情報漏えい / EM Information Leakage  
キーワード(2)(和/英) TEMPEST / TEMPEST  
キーワード(3)(和/英) IEMI / IEMI  
キーワード(4)(和/英) /  
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キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 高野 誠也 / Seiya Takano / タカノ セイヤ
第1著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 鍛治 秀伍 / Shugo Kaji / カジ シュウゴ
第2著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 衣川 昌宏 / Masahiro Kinugawa / キヌガワ マサヒロ
第3著者 所属(和/英) 福知山公立大学 (略称: 福知山公立大)
The University of Fukuchiyama (略称: Univ. of Fukuchiyama)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto / フジモト ダイスケ
第4著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 林 優一 / Yuichi Hayashi / ハヤシ ユウイチ
第5著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
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講演者 第1著者 
発表日時 2022-10-14 09:50:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMCJ 
資料番号 EMCJ2022-53, MW2022-99, EST2022-63 
巻番号(vol) vol.122 
号番号(no) no.206(EMCJ), no.207(MW), no.208(EST) 
ページ範囲 pp.93-96 
ページ数
発行日 2022-10-06 (EMCJ, MW, EST) 


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