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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2022-10-14 09:50 意図的な電磁妨害により生ずる情報漏えいのモデル化に向けた評価環境の構築 ○高野誠也・鍛治秀伍（奈良先端大）・衣川昌宏（福知山公立大）・藤本大介・林 優一（奈良先端大）  EMCJ2022-53 MW2022-99 EST2022-63 |
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| 抄録 | （和） | 意図的な電磁妨害時に生じる電磁放射によって機器内部の情報が漏えいする脅威が報告されている。これまで、漏えいを引き起こす要素の1つであるデジタルICの入力インピーダンスの周波数特性に着目した漏えい周波数の推定手法が提案されてきたが、適用範囲が出力状態を制御可能なICに限られていた。そこで本稿では、出力状態の制御が困難なICの入力インピーダンスの変化を計測可能な評価環境を構築した。実験では、2種類のD級オーディオアンプICを対象とし、出力状態に応じた入力インピーダンスの変化を評価した。 |
| （英） | The threats of electromagnetic (EM) information leakage induced by low-power intentional EM interference have been reported. A leakage frequency estimation method has been proposed, focusing on the frequency characteristic of the digital IC's input impedance, which is one of the factors inducing EM information leakage. However, the method only applies to the IC that output states are controllable. This paper shows an evaluation system that can measure changes in the input impedance of ICs, which is difficult to control the output states. In the experiment, two types of D-class audio amplifier ICs were targeted, and we measured the input impedance changes according to the output states. | |
| キーワード | （和） | 電磁情報漏えい / TEMPEST / IEMI / / / / / |
| （英） | EM Information Leakage / TEMPEST / IEMI / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 122, no. 206, EMCJ2022-53, pp. 93-96, 2022年10月. | |
| 資料番号 | EMCJ2022-53 | |
| 発行日 | 2022-10-06 (EMCJ, MW, EST) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2022-53 MW2022-99 EST2022-63 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ MW EST IEE-EMC |
| 開催期間 | 2022-10-13 - 2022-10-14 |
| 開催地（和） | 秋田大学 |
| 開催地（英） | Akita University |
| テーマ（和） | マイクロ波/電磁界シミュレーション/EMC一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2022-10-EMCJ-MW-EST-EMC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 意図的な電磁妨害により生ずる情報漏えいのモデル化に向けた評価環境の構築 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Development of an Evaluation System for Modeling of Information Leakage Induced by Low-Power IEMI |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電磁情報漏えい / EM Information Leakage |
| キーワード(2)（和/英） | TEMPEST / TEMPEST |
| キーワード(3)（和/英） | IEMI / IEMI |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高野 誠也 / Seiya Takano / タカノ セイヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 鍛治 秀伍 / Shugo Kaji / カジ シュウゴ |
| 第2著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 衣川 昌宏 / Masahiro Kinugawa / キヌガワ マサヒロ |
| 第3著者 所属（和/英） | 福知山公立大学 (略称： 福知山公立大) The University of Fukuchiyama (略称： Univ. of Fukuchiyama) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto / フジモト ダイスケ |
| 第4著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 林 優一 / Yuichi Hayashi / ハヤシ ユウイチ |
| 第5著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2022-10-14 09:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2022-53, MW2022-99, EST2022-63 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | no.206(EMCJ), no.207(MW), no.208(EST) |
| ページ範囲 | pp.93-96 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2022-10-06 (EMCJ, MW, EST) |
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