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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2022-11-17 14:25 安全関連系のDUフォールトに対する最適保全実施間隔 ○井上真二（関西大）・山田 茂（鳥取大）  R2022-41 |
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| 抄録 | （和） | 電気・電子・プログラマブル電子機器（E/E/PE）安全関連系の設計・開発では，一般的に，基本国際機能安全規格IEC 61508への準拠が求められる．特に，安全度水準（SIL）の決定では，作動要求頻度に応じて個別に定義される目標機能失敗尺度に基づいてSILへの割り当てが行われるが，プルーフテスト実施間隔は目標機能失敗尺度の算出結果に大きな影響を与える．プルーフテストは，運用時において頻繁に実施される自己診断機能では検出できないフォールト，いわゆるDUフォールトの検知および修復に主軸を置く定期的な保全活動である．運用時における安全性の維持を念頭に入れつつも，プルーフテストの実施による費用と可用性低下への影響や，リスク事象発生時の危害リスクを考えながら，最適なプルーフテストの実施間隔を求めることは興味ある問題の一つとして考えられる．本研究では，上述の背景に基づいて，保全コストと危害リスクとのトレードオフ関係に焦点を当て，E/E/PE安全関連系の状態と作動要求発生事象との双方の不確実性を考慮しながら，信頼性数理における保全性理論を活用しつつ，プルーフテスト実施間隔を決定するための最適方策を導出する． |
| （英） | IEC 61508 is known as the basic international standard for the functional safety of electrical / electronic / programmable electronic (E/E/PE) safety-related systems. Generally, the conformity and authentication of IEC 61508 are required in design and development of E/E/PE safety-related systems. Especially, the safety integrity level (SIL) defined in IEC 61508 is measured on the basis of target failure measures selected based on the frequency of safety-demands to the E/E/PE safety-related systems and the proof-testing interval is an important factor affecting the safety assessment. The proof-testing is known as a periodic inspection and maintenance activities especially for the dangerous undetected (DU) fault in the E/E/PE safety-related system. Considering the cost for the proof-testing itself, the availability of the E/E/PE safety-related systems, and the harmful cost, discussion on when to conduct the proof-testing must be interesting and meaningful for economic operation of the whole system including the E/E/PE safety-related system. This research discusses an optimal policy for estimating economic proof-testing intervals by considering the trade-off relationship between the proof-testing cost and harmful cost by considering the uncertainties of the state of the E/E/PE safety-related system and the safety demands to the E/E/PE safety-related system. | |
| キーワード | （和） | 機能安全 / E/E/PE安全関連系 / IEC 61508 / 安全度水準 / DUフォールト / プルーフテスト実施間隔 / / |
| （英） | Functional safety / E/E/PE safety-related systems / IEC 61508 / safety integrity level / DU fault / proof-testing interval / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 122, no. 257, R2022-41, pp. 7-12, 2022年11月. | |
| 資料番号 | R2022-41 | |
| 発行日 | 2022-11-10 (R) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2022-41 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
| 開催期間 | 2022-11-17 - 2022-11-17 |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | 半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 |
| テーマ（英） | Reliability of semiconductor and electronic devices, Reliability general |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2022-11-R |
| 本文の言語 | 英語（日本語タイトルあり） |
| タイトル（和） | 安全関連系のDUフォールトに対する最適保全実施間隔 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Optimal Maintenance Interval for DU Fault of Safety-Related System |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 機能安全 / Functional safety |
| キーワード(2)（和/英） | E/E/PE安全関連系 / E/E/PE safety-related systems |
| キーワード(3)（和/英） | IEC 61508 / IEC 61508 |
| キーワード(4)（和/英） | 安全度水準 / safety integrity level |
| キーワード(5)（和/英） | DUフォールト / DU fault |
| キーワード(6)（和/英） | プルーフテスト実施間隔 / proof-testing interval |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 真二 / Shinji Inoue / イノウエ シンジ |
| 第1著者 所属（和/英） | 関西大学 (略称： 関西大) Kansai University (略称： Kansai Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山田 茂 / Shigeru Yamada / ヤマダ シゲル |
| 第2著者 所属（和/英） | 鳥取大学 (略称： 鳥取大) Tottori Univ (略称： Tottori Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2022-11-17 14:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2022-41 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | no.257 |
| ページ範囲 | pp.7-12 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2022-11-10 (R) |
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