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講演抄録/キーワード
講演名 2022-11-30 14:20
遅延検査容易化設計を用いるPUF回路の周囲温度による動作性能調査
大濱瑛祐四柳浩之橋爪正樹徳島大VLD2022-46 ICD2022-63 DC2022-62 RECONF2022-69
抄録 (和) 本研究では,遅延検査容易化設計をセキュリティ技術としても機能させることを目的として,遅延検査容易化回路と PUF 回路を併用するための手法を提案している.過去に提案手法により生成した固有値は PUF として利用可能であることは確認している.しかし,周囲温度変動が提案回路を用いた PUF 回路の性能に影響があるかの調査
は行われていない.そのため,異なる周囲温度のもとで試作 IC の実測を行い,生成した固有値の PUF 性能の調査を行った.その結果,一意性・安定性がともに高いことを確認した.また,生成した固有値に基づきチップ間での個体識別が可能であることも確認した. 
(英) In this study, we have proposed a method to make the design-for-testability circuity function as a security mechanism by combining a delay testable circuit based on boundary scan design and a PUF (physically
unclonable function) circuit. We have already confirmed that the unique values generated by the proposed circuit can be utilized as a PUF. However, it is not evaluated whether the proposed circuit can be available as a PUF under temperature variations. In this paper, we investigate the prototype IC under varying temperatures and evaluate the generated unique values for evaluating PUF performance. The results show that the proposed circuit has both high uniqueness and stability. We also confirmed the generated unique values can achieve the individual identification of
chips.
キーワード (和) PUF / 遅延検査容易化設計 / 全会一致選択法 / 個体識別 / 周囲温度変動 / / /  
(英) PUF / delay tesing using design-for-testability / unanimous selection method / individual identification / temperature variation / / /  
文献情報 信学技報, vol. 122, no. 285, DC2022-62, pp. 156-161, 2022年11月.
資料番号 DC2022-62 
発行日 2022-11-21 (VLD, ICD, DC, RECONF) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2022-46 ICD2022-63 DC2022-62 RECONF2022-69

研究会情報
研究会 VLD DC RECONF ICD IPSJ-SLDM  
開催期間 2022-11-28 - 2022-11-30 
開催地(和) 金沢市文化ホール 
開催地(英)  
テーマ(和) デザインガイア2022 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2022 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2022-11-VLD-DC-RECONF-ICD-SLDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 遅延検査容易化設計を用いるPUF回路の周囲温度による動作性能調査 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) On the performance evaluation of a PUF circuit using the Delay Testable Circuit under temperature effects 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) PUF / PUF  
キーワード(2)(和/英) 遅延検査容易化設計 / delay tesing using design-for-testability  
キーワード(3)(和/英) 全会一致選択法 / unanimous selection method  
キーワード(4)(和/英) 個体識別 / individual identification  
キーワード(5)(和/英) 周囲温度変動 / temperature variation  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 大濱 瑛祐 / Eisuke Ohama / オオハマ エイスケ
第1著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
Tokushima University (略称: Tokushima Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 四柳 浩之 / Hiroyuki Yotsuyanagi / ヨツヤナギ ヒロユキ
第2著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
Tokushima University (略称: Tokushima Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 橋爪 正樹 / Masaki Hashizume / ハシズメ マサキ
第3著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
Tokushima University (略称: Tokushima Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2022-11-30 14:20:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 VLD2022-46, ICD2022-63, DC2022-62, RECONF2022-69 
巻番号(vol) vol.122 
号番号(no) no.283(VLD), no.284(ICD), no.285(DC), no.286(RECONF) 
ページ範囲 pp.156-161 
ページ数
発行日 2022-11-21 (VLD, ICD, DC, RECONF) 


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