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| 講演名 | 2022-12-16 13:10 LSI微小遅延故障診断の高精度化について ○藤田慎ノ介・ステファン ホルスト・温 暁青（九工大）  DC2022-72 |
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| 抄録 | （和） | 今日のタイトなタイミングマージン、製造ばらつきの増加、ナノメータ技術の発達に伴い、タイミング関連の欠陥がLSI技術の発展の大きな懸念事項になっている。そこで、SDD ( Small Delay Defect ) の詳細な情報が必要となっている。また、LSI製造における各素子の遅延値のばらつきが回路に影響を及ぼすようになっている。そのため、ばらつきを考慮した故障診断を行う必要がある。本研究では、圧縮されたテスト応答とプロセス変動下でのタイミング問題を診断するために特別に設計された診断アルゴリズムを提案する。診断ができていなかったSDD候補数が多い場合に対し、新たに処理を加えたアルゴリズムの結果について報告する。 |
| （英） | With today's tight timing margins, increasing manufacturing variation, and the development of nanometer technology, timing-related defects have become a major concern in the development of LSI technology. Therefore, detailed information on SDD (Small Delay Defect) is needed. In addition, variations in the delay values of each element in LSI manufacturing have come to affect circuits. Therefore, it is necessary to perform fault diagnosis taking the variations into account. In this study, we propose a diagnostic algorithm specifically designed to diagnose timing problems under compressed test responses and process variations. We report the results of the algorithm with a new process for the case of a large number of SDD candidates that were not diagnosed. | |
| キーワード | （和） | SDD / 遅延故障 / 故障診断 / / / / / |
| （英） | Small Delay Defect / Delay Fault / Fault Diagnosis / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 122, no. 318, DC2022-72, pp. 1-6, 2022年12月. | |
| 資料番号 | DC2022-72 | |
| 発行日 | 2022-12-09 (DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2022-72 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2022-12-16 - 2022-12-16 |
| 開催地（和） | 旧大阪商船「海峡ロマンホール」 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | Winter Workshop on Safety（安全性に関する冬のワークショップ） 安全性、その他一般 |
| テーマ（英） | Safety, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2022-12-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | LSI微小遅延故障診断の高精度化について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On Improving the Accuracy of LSI Small Delay Fault Diagnosis |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | SDD / Small Delay Defect |
| キーワード(2)（和/英） | 遅延故障 / Delay Fault |
| キーワード(3)（和/英） | 故障診断 / Fault Diagnosis |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤田 慎ノ介 / Shinnosuke Fujita / フジタ シンノスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | ステファン ホルスト / Stefan Holst / |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen / |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2022-12-16 13:10:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2022-72 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | no.318 |
| ページ範囲 | pp.1-6 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2022-12-09 (DC) |
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