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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2023-01-20 11:25 Online junction temperature measurement of Power MOSFET by dynamic VGS-ID monitoring system ○Yandagkhuu Bayarsaikhan・Ichiro Omura（KIT）  EE2022-46 |
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| 抄録 | （和） | パワーエレクトロニクス・システムの高信頼性への要求が高まる中，パワーデバイスのオンライン状態監視は極めて重要なものとなっている。特にジャンクション温度は、パワー半導体デバイスの信頼性と健全性を示す重要な指標である。そこで、我々は、動的なしきい値電圧測定による新しいジャンクション温度推定方法を開発した。提案した手法では、ドレイン電流を検出するために特別に設計されたPCBセンサーを使用し、所定のドレイン電流レベルにおける動的ゲート-ソース間電圧を捕捉するものである。本手法の妥当性をダブルパルステストにより実験的に検証した。実験ではマイクロコントローラに内蔵された16ビットADCを利用して、捕捉した電圧をデジタル化しジャンクション温度を推定した。 |
| （英） | As the demand for high reliability in power electronics systems increases, the online condition monitoring of power devices is becoming crucial. The junction temperature is a vital indicator of the reliability and health of the power semiconductor devices. Therefore, we developed a novel junction temperature measurement method via dynamic threshold voltage. The proposed method uses a specially designed PCB sensor for detecting a drain current and captures the dynamic gate-source voltage at predetermined drain current levels. The analog circuit was designed and experimentally verified by a double pulse test. A 16-bit ADC embedded in the microcontroller is utilized to digitize the captured voltage to demonstrate the monitoring system. The temperature sensitivity of the Power MOSFET was -2.2 mV/°C and was unaffected by the high side device temperature. | |
| キーワード | （和） | MOSFET / 温度測定 / 温度モニタリング / TSEP / スレッショルド電圧 / ロゴスキーコイル / PCB電流センサ / |
| （英） | MOSFET / Temperature measurement / Temperature monitoring / TSEP / Threshold voltage / Rogowski coil / PCB current sensor / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 122, no. 343, EE2022-46, pp. 111-116, 2023年1月. | |
| 資料番号 | EE2022-46 | |
| 発行日 | 2023-01-12 (EE) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EE2022-46 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EE |
| 開催期間 | 2023-01-19 - 2023-01-20 |
| 開催地（和） | 九州工業大学（戸畑キャンパス 附属図書館AVホール） |
| 開催地（英） | Kyushu Institute of Technology |
| テーマ（和） | 回路技術及び高効率エネルギー変換技術関連、一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EE |
| 会議コード | 2023-01-EE |
| 本文の言語 | 英語 |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Online junction temperature measurement of Power MOSFET by dynamic VGS-ID monitoring system |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | MOSFET / MOSFET |
| キーワード(2)（和/英） | 温度測定 / Temperature measurement |
| キーワード(3)（和/英） | 温度モニタリング / Temperature monitoring |
| キーワード(4)（和/英） | TSEP / TSEP |
| キーワード(5)（和/英） | スレッショルド電圧 / Threshold voltage |
| キーワード(6)（和/英） | ロゴスキーコイル / Rogowski coil |
| キーワード(7)（和/英） | PCB電流センサ / PCB current sensor |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | ヤンダッグフゥ バヤルサイハン / Yandagkhuu Bayarsaikhan / |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大村 一郎 / Ichiro Omura / |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2023-01-20 11:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EE |
| 資料番号 | EE2022-46 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | no.343 |
| ページ範囲 | pp.111-116 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2023-01-12 (EE) |
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