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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2023-01-24 10:30 LPDDR4 SDRAMとGDDR5 SDRAMのソフトエラー耐性の実測評価 ○上林幹宜・小林和淑（京都工繊大）・橋本昌宜（京大）  VLD2022-65 RECONF2022-88 |
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| 抄録 | （和） | 近年，コンピュータシステムに搭載されるメモリの大容量化に伴い，信頼性の低下が問題になっている．信頼性低下の一因としてソフトエラーが挙げられる．本稿では二種類の8Gb DRAM（Dynamic Random Access Memory）に中性子ビームを照射し，ソフトエラー耐性の実測評価を行った．LPDDR4 SDRAMはFPGAボード上，GDDR5 SDRAMはGPUボード上に搭載されているものを使用した．どちらのDRAMでもSER（Soft Error Rate）は約3 FIT/Gbであった．検出されたエラーのうち，LPDDR4ではすべてがバーストエラー，GDDR5では38%がバーストエラーであった． |
| （英） | In recent years, as the memory capacity of computer systems has increased,the reliability of the system has decreased.Soft errors are one of the main reasons for the decreased reliability.In this paper, two types of 8Gb DRAM (Dynamic Random Access Memory) were irradiated with neutron beamsto evaluate their soft error tolerance.LPDDR4 SDRAM was used on an FPGA board and GDDR5 SDRAM was used on a GPU board.The results showed that the soft error rates for both DRAMs were around 3 FIT/Gb.In LPDDR4, all of the detected errors were burst errors,and in GDDR5, 38% of the detected errors were burst errors. | |
| キーワード | （和） | ソフトエラー / DRAM / バーストエラー / FPGA / / / / |
| （英） | Soft Error / DRAM / Burst Error / FPGA / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 122, no. 353, VLD2022-65, pp. 34-39, 2023年1月. | |
| 資料番号 | VLD2022-65 | |
| 発行日 | 2023-01-16 (VLD, RECONF) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2022-65 RECONF2022-88 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | IPSJ-SLDM RECONF VLD |
| 開催期間 | 2023-01-23 - 2023-01-24 |
| 開催地（和） | 慶応義塾大学 日吉キャンパス 来往舎2階大会議室 |
| 開催地（英） | Raiosha, Hiyoshi Campus, Keio University |
| テーマ（和） | FPGA 応用および一般 |
| テーマ（英） | FPGA Applications, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2023-01-SLDM-RECONF-VLD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | LPDDR4 SDRAMとGDDR5 SDRAMのソフトエラー耐性の実測評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Measurement results of soft error tolerance of LPDDR4 SDRAM and GDDR5 SDRAM |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトエラー / Soft Error |
| キーワード(2)（和/英） | DRAM / DRAM |
| キーワード(3)（和/英） | バーストエラー / Burst Error |
| キーワード(4)（和/英） | FPGA / FPGA |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 上林 幹宜 / Motoki Kamibayashi / カミバヤシ モトキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学 (略称： 京都工繊大) Kyoto Institute of Technology (略称： Kyoto Inst. of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 和淑 / Kazutoshi Kobayashi / コバヤシ カズトシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学 (略称： 京都工繊大) Kyoto Institute of Technology (略称： Kyoto Inst. of Tech.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 橋本 昌宜 / Masanori Hashimoto / ハシモト マサノリ |
| 第3著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2023-01-24 10:30:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2022-65, RECONF2022-88 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | no.353(VLD), no.354(RECONF) |
| ページ範囲 | pp.34-39 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2023-01-16 (VLD, RECONF) |
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