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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2023-01-26 13:25 適合度検定を用いたクロックフィンガープリント識別手法 ○小林明珠・干川尚人（小山高専）・白木厚司・伊藤智義（千葉大）  NS2022-154 |
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| 抄録 | （和） | IoT機器の増加に伴い，機器のすり替えやなりすましの危険性が高まり，適切な機器識別手法の重要性が増している．我々はディジタル機器固有の時刻ドリフトがCPUコア温度の3次関数であらわされることを用いた機器識別手法を検討している．しかし，過去に提案した時刻ドリフトの回帰曲線と測定値との残差の分散を用いた識別法は，第三者によって正規機器の測定値を1つでも取得された場合に，それを繰り返し用いることで正規機器になりすませる可能性があった．そこでこれを防ぐために，適合度検定を用いた識別法を新たに提案した．また，測定数を変えた場合や，なりすまし機器の測定値を混入させた場合の識別性能を評価した． |
| （英） | With the increase in the number of IoT devices, the danger of device substitution and spoofing has increased, and appropriate device identification methods have become increasingly important. We are investigating a device identification method based on the fact that the time drift inherent in digital devices is represented by a cubic function of CPU core temperature. In our previous work, we proposed an identification method using the variance of the residuals between the regression curve of the time drift and the measured values. However, if even one measured value of a legitimate device was obtained by a malicious third person, it could be used repeatedly to impersonate the legitimate device. To prevent this, we proposed an identification method using a goodness-of-fit test. We also evaluated the identification performance when the number of measurements is varied and when the measurements of spoofed devices are mixed in. | |
| キーワード | （和） | IoT / システム時刻 / 時刻ドリフト / CPU / 識別 / 恒温槽 / / |
| （英） | IoT / system time / time drift / CPU / identification / constant temperature chamber / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 122, no. 362, NS2022-154, pp. 25-30, 2023年1月. | |
| 資料番号 | NS2022-154 | |
| 発行日 | 2023-01-19 (NS) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | NS2022-154 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | NS NWS |
| 開催期間 | 2023-01-26 - 2023-01-27 |
| 開催地（和） | ハイブリッド開催(山口県) |
| 開催地（英） | Hybrid Meeting (Yamaguchi Prefecture) |
| テーマ（和） | NWソフトウエア(ソフトウエアアーキテクチャ，ミドルウエア)，NWアプリケーション，SOA/SDP，NGN/IMS/API，分散制御・ダイナミックルーチング，グリッド，NFV，IoT，NW及びシステム信頼性，NW及びシステム評価，一般 |
| テーマ（英） | Network software (Software architecture, Middleware), Network application, SOA/SDP, NGN/IMS/API, Distributed control/Dynamic routing, Grid, NFV, IoT, Network/System reliability, Network/System evaluation, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | NS |
| 会議コード | 2023-01-NS-NWS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 適合度検定を用いたクロックフィンガープリント識別手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Clock Fingerprint Identification Method Using Goodness of Fit Test |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | IoT / IoT |
| キーワード(2)（和/英） | システム時刻 / system time |
| キーワード(3)（和/英） | 時刻ドリフト / time drift |
| キーワード(4)（和/英） | CPU / CPU |
| キーワード(5)（和/英） | 識別 / identification |
| キーワード(6)（和/英） | 恒温槽 / constant temperature chamber |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 明珠 / Asu Kobayashi / コバヤシ アス |
| 第1著者 所属（和/英） | 小山工業高等専門学校 (略称： 小山高専) National Institute of Technology (KOSEN), Oyama College (略称： Oyama College) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 干川 尚人 / Naoto Hoshikawa / ホシカワ ナオト |
| 第2著者 所属（和/英） | 小山工業高等専門学校 (略称： 小山高専) National Institute of Technology (KOSEN), Oyama College (略称： Oyama College) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 白木 厚司 / Atsushi Shiraki / シラキ アツシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 千葉大学 (略称： 千葉大) Chiba University (略称： Chiba Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊藤 智義 / Tomoyoshi Ito / イトウ トモヨシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 千葉大学 (略称： 千葉大) Chiba University (略称： Chiba Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2023-01-26 13:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | NS |
| 資料番号 | NS2022-154 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | no.362 |
| ページ範囲 | pp.25-30 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2023-01-19 (NS) |
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