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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2023-02-28 16:15 A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch with Improved Soft Error Tolerability ○Ruijun Ma（AUST）・Stefan Holst・Xiaoqing Wen（KIT）・Hui Xu（AUST）・Aibin Yan（AU）  DC2022-91 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | The continuous pursuing of smaller technology nodes makes modern Integrated Circuits (ICs) more and more susceptible to soft-errors. Many radiation-hardened latch designs have been proposed to tolerate soft-errors for reliable LSI designs. However, these existing hardened latches can suffer from reliability issues after production because production defects in such hardened latches are difficult to detect with conventional scan testing. In our previous works, we improved the defect detectability of these hardened latches by adding design-for-test (DFT) technique. A hardened latch design, called high performance scan-test-aware hardened latch (HP-STAHL), was proposed for higher defect detectability, higher soft-error tolerability, and lower propagation delay. However, the added DFT structure in HP-STAHL can partially reduce its soft-error tolerability. In this paper, we propose a novel high performance scan-test-aware hardened latch design with improved soft-error tolerability (HP-STAHL-I) by applying a novel design to offset the reduced soft-error tolerability. Simulation results show that HP-STAHL-I provides higher soft-error tolerability than HP-STAHL. HP-STAHL-I also has lower delay and power delay product (PDP) than the standard latch, demonstrating its high performance. | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | soft-error / hardened latch / defect / scan test / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 122, no. 393, DC2022-91, pp. 51-55, 2023年2月. | |
| 資料番号 | DC2022-91 | |
| 発行日 | 2023-02-21 (DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2022-91 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2023-02-28 - 2023-02-28 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2023-02-DC |
| 本文の言語 | 英語 |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch with Improved Soft Error Tolerability |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | / soft-error |
| キーワード(2)（和/英） | / hardened latch |
| キーワード(3)（和/英） | / defect |
| キーワード(4)（和/英） | / scan test |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 馬 瑞君 / Ruijun Ma / |
| 第1著者 所属（和/英） | 安徽理工大学 (略称： 安徽理工大) Anhui University of Science and Technology (略称： AUST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | ホルスト シュテファン / Stefan Holst / |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen / |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 徐 輝 / Hui Xu / |
| 第4著者 所属（和/英） | 安徽理工大学 (略称： 安徽理工大) Anhui University of Science and Technology (略称： AUST) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 閻 愛斌 / Aibin Yan / |
| 第5著者 所属（和/英） | 安徽大学 (略称： 安徽大) Anhui University (略称： AU) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2023-02-28 16:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2022-91 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | no.393 |
| ページ範囲 | pp.51-55 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2023-02-21 (DC) |
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