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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2023-02-28 15:15 組込み自己テストのための複数ランダムパータンレジスタント遷移故障のシード生成法 徐 雁レイ・三浦 怜・○細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）  DC2022-89 |
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| 抄録 | （和） | 近年超大規模集積回路の微細化，高速化，電源電圧の低電圧化により，タイミング遅延を伴う欠陥が増加している．それゆえ， 遷移故障のテストが必要不可欠になっている．テストのコスト削減と，故障モデルの複雑化に対応するためのテストの高品質化が大きな課題となっている．その課題を解決するため，組込み自己テスト(Built-in Self Test：BIST)が広く使用されている．しかしながら，BISTでは，擬似ランダムパターンテストを行っているため，ランダムパターンレジスタント故障が存在するため，故障検出率が高くない．それゆえ，BISTではリシード技術が提案されてより，テスト対象回路と擬似ランダムパターン発生回路の機能を組合せ回路にモデルを扱う 1 パスシード生成法が提案されている．本論文では，シード数を削減するために，疑似ブール最適化問題(Pseudo-Boolean Optimization：PBO)を用いて各シード生成時に目標とする故障を複数設定し，その検出数を最大化する．更に生成したシードから印加されるテストパターンが低消費電力であることを保証するためにPBOを使用した，消費電力の閾値制約を１パスシード生成法を提案する． |
| （英） | With shrinking feature sizes, growing clock frequencies, and decreasing power supply voltage, modern very large integrated circuits are increasingly suffering from the impact of timing related defects. Therefore, testing for transition faults is necessary. It is important to reduce test cost and improve test quality to deal with the complexity of fault models. To resolve this problem, built-in self-test (BIST) technique is widely used. However, since BIST uses pseudo-random pattern testing, fault coverage is not high due to the existence of random pattern resistant faults. Therefore, in BIST, reseed techniques have been proposed and one-pass seed generation methods which deal with the model combined the functions of the circuit under test and the pseudo-random pattern generator. In this paper, to reduce the number of seeds we use a pseudo-Boolean optimization (PBO) to generate seeds for multiple target faults and PBO maximizes the number of detected target faults. Furthermore, to ensure that the test patterns applied from the generated seed are capture-safe, we propose a one-pass seed generation method for multiple target faults with a power consumption threshold constraint using PBO. | |
| キーワード | （和） | 組込み自己テスト / 遷移故障 / シード生成 / 擬似ブール最適化 / 低消費電力 / / / |
| （英） | BIST / transition faults / seed generation / Pseudo-Boolean optimization / low power consumption / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 122, no. 393, DC2022-89, pp. 39-44, 2023年2月. | |
| 資料番号 | DC2022-89 | |
| 発行日 | 2023-02-21 (DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2022-89 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2023-02-28 - 2023-02-28 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2023-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 組込み自己テストのための複数ランダムパータンレジスタント遷移故障のシード生成法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Seed Generation Method for Multiple Random Pattern Resistant Transition Faults for BIST |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 組込み自己テスト / BIST |
| キーワード(2)（和/英） | 遷移故障 / transition faults |
| キーワード(3)（和/英） | シード生成 / seed generation |
| キーワード(4)（和/英） | 擬似ブール最適化 / Pseudo-Boolean optimization |
| キーワード(5)（和/英） | 低消費電力 / low power consumption |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 徐 雁レイ / Yangling Xu / ジョ エンレイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon university (略称： Nihon Univ) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三浦 怜 / Rei Miura / ミウラ レイ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon university (略称： Nihon Univ) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon university (略称： Nihon Univ) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 京都産業大学 (略称： 京都産大) Kyoto Sangyo University (略称： KSU) |
| 講演者 | 第3著者 |
| 発表日時 | 2023-02-28 15:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2022-89 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | no.393 |
| ページ範囲 | pp.39-44 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2023-02-21 (DC) |
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