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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2023-02-28 13:25 A Clear and Understandable Notation for Expressing T-Way Test Sequence Generation Constraints ○Lele Jiang・Tatsuhiro Tsuchiya（Osaka Univ.）  DC2022-85 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | This paper focuses on the problem of constraint representation for the generation of t-way test sequences. T-way sequence testing is a technique for testing event-driven systems. This technique tests all combinations of t events in all possible orders. Event-driven systems often have constraints on the order of executable events that must be satisfied by every test case. To express the constraints, we propose a notation that is easy to understand as well as machine-readable. The proposed notation only uses basic mathematical operators, thus allowing users to express complex constraints without understanding special operators. We develop a system that automatically generates a set of test cases that meet the constraints represented in the proposed notation. From the results of applying the system to a real-life case study, it is found the notation is intuitive and easy to understand and that the system can generate test cases within a practical time. |
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| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | Test Sequence Generation / Sequencing Constraint / T-way Sequence Coverage / Sequence Testing / Event-based Testing / Combinatorial Testing / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 122, no. 393, DC2022-85, pp. 16-20, 2023年2月. | |
| 資料番号 | DC2022-85 | |
| 発行日 | 2023-02-21 (DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2022-85 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2023-02-28 - 2023-02-28 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2023-02-DC |
| 本文の言語 | 英語 |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Clear and Understandable Notation for Expressing T-Way Test Sequence Generation Constraints |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | / Test Sequence Generation |
| キーワード(2)（和/英） | / Sequencing Constraint |
| キーワード(3)（和/英） | / T-way Sequence Coverage |
| キーワード(4)（和/英） | / Sequence Testing |
| キーワード(5)（和/英） | / Event-based Testing |
| キーワード(6)（和/英） | / Combinatorial Testing |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 蔣 楽楽 / Lele Jiang / ショウ ルール |
| 第1著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 土屋 達弘 / Tatsuhiro Tsuchiya / ツチヤ タツヒロ |
| 第2著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2023-02-28 13:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2022-85 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | no.393 |
| ページ範囲 | pp.16-20 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2023-02-21 (DC) |
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