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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2023-02-28 16:40 論理回路内のホットスポット特定のための効率的な 信号値遷移確率計算に関する研究 ○宇都宮大喜・宮瀬紘平・星野 龍（九工大）・ルー シュエクン（国立台湾科技大）・温 暁青・梶原誠司（九工大）  DC2022-92 |
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| 抄録 | （和） | LSIテストにおいて消費電力が大きい場合，過度のIR-dropを引き起こすことがある．過度のIR-dropは過度の遅延を発生させ，テストの誤判定につながる．過度のIR-dropは回路全体で発生するのではなく，スイッチング動作が多く発生しているエリア（ホットスポット）で発生する．誤テストを防ぐためには，ホットスポット内のIR-dropを削減または制御する方法を適用することが重要となる．また，ホットスポットを特定する技術は，IR-dropを削減または制御するために必要な技術となる．本研究では，計算量の少ない信号値遷移確率計算により，論理回路内のホットスポットを特定する手法を提案する．IWLS2005 OpenCores回路に対する実験結果では，テストパターンごとにホットスポットの異なる消費電力解析結果と比較評価を行い，提案手法によりホットスポットを特定できることを示す． |
| （英） | High power consumption in LSI testing may cause excessive IR-drop. When IR-drop becomes excessive, it causes excessive delay, resulting in test malfunction. Excessive IR-drop does not occur in the entire area of circuit, but in certain areas where a large number of switching activities occur (such areas are called hotspots in this work). In order to avoid test malfunction, it is important to develop a method to reduce or control IR-drop in the specific areas. Locating areas where excessive IR-drop occur is a necessary technique to reduce or control IR-drop effectively and efficiently. In this work, we propose a method to locate hotspots in a logic circuit by switching probability calculation. Experimental results for IWLS2005 OpenCores circuits demonstrate the proposed method can locate hotspots by comparing the results of power consumption which show hotspots in various areas depending on a test pattern. | |
| キーワード | （和） | 実速度テスト / テスト時の消費電力 / / / / / / |
| （英） | At-speed testing / test power / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 122, no. 393, DC2022-92, pp. 56-61, 2023年2月. | |
| 資料番号 | DC2022-92 | |
| 発行日 | 2023-02-21 (DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2022-92 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2023-02-28 - 2023-02-28 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2023-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 論理回路内のホットスポット特定のための効率的な 信号値遷移確率計算に関する研究 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Effective Switching Probability Calculation to Locate Hotspots in Logic Circuit |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 実速度テスト / At-speed testing |
| キーワード(2)（和/英） | テスト時の消費電力 / test power |
| キーワード(3)（和/英） | / |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宇都宮 大喜 / Taiki Utsunomiya / ウツノミヤ タイキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 星野 龍 / Ryu Hoshino / |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | ルー シュエクン / Shyue-Kung Lu / ルー シュエクン |
| 第4著者 所属（和/英） | 台湾科技大学 (略称： 国立台湾科技大) National Taiwan University of Science and Technology (略称： NTUST) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen / オン ギョウセイ |
| 第5著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第6著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2023-02-28 16:40:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2022-92 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | no.393 |
| ページ範囲 | pp.56-61 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2023-02-21 (DC) |
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