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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2023-04-14 15:10 暗号ICチップの電磁的故障注入攻撃とチップ内部電圧応答の解析 ○長谷川陸宇・弘原海拓也・門田和樹・三木拓司・永田 真（神戸大）  HWS2023-5 |
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| 抄録 | （和） | 暗号ICチップには暗号回路動作中に電磁波やグリッジの挿入などにより意図的に故障注入を行うことによって回路の誤動作を引き起こす故障注入攻撃の脅威が存在する。そのため、故障注入による回路の誤動作を防ぐ対策を行い、回路の正しい動作を保証することが求められる。また、故障注入攻撃により発生した故障と攻撃を行わない通常時の回路の動作との差分を比較することで暗号ICチップ内部の秘匿情報の獲得を目指す故障差分攻撃も存在する。そのため、故障注入攻撃に対する対策は故障差分攻撃を困難にする。故障注入攻撃に対する対策を行うためには故障注入が回路の誤動作を引き起こすメカニズムを解明することが必要である。本稿では、暗号モジュールとしてAESを搭載した暗号ICチップに対して電磁的故障注入攻撃を行い、故障注入に対するチップ内部応答の評価を行った。 |
| （英） | Cryptographic IC chips are subject to the threat of fault injection attacks, which cause circuit malfunctions through intentional fault injection by electromagnetic waves or the insertion of glitches during cryptographic circuit operation. Therefore, it is necessary to take measures to prevent circuit malfunctions caused by fault injection. In order to countermeasure against fault injection attacks, it is necessary to understand the mechanism by which fault injection causes circuit malfunction. In this paper, an electromagnetic fault injection attack was performed on a cryptographic IC chip equipped with AES as a cryptographic module, and the internal response of the chip to fault injection was evaluated. | |
| キーワード | （和） | 暗号ICチップ / 故障注入攻撃 / 電磁的故障注入 / EMFI / AES / / / |
| （英） | Cryptographic IC chip / Fault injection attack / EMFI / AES / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 123, no. 6, HWS2023-5, pp. 16-19, 2023年4月. | |
| 資料番号 | HWS2023-5 | |
| 発行日 | 2023-04-07 (HWS) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | HWS2023-5 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS |
| 開催期間 | 2023-04-14 - 2023-04-15 |
| 開催地（和） | 湯布院公民館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | ハードウェアセキュリティ，一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | HWS |
| 会議コード | 2023-04-HWS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 暗号ICチップの電磁的故障注入攻撃とチップ内部電圧応答の解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Electromagnetic fault injection attacks on cryptographic IC chips and analysis of internal voltage fluctuation |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 暗号ICチップ / Cryptographic IC chip |
| キーワード(2)（和/英） | 故障注入攻撃 / Fault injection attack |
| キーワード(3)（和/英） | 電磁的故障注入 / EMFI |
| キーワード(4)（和/英） | EMFI / AES |
| キーワード(5)（和/英） | AES / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 長谷川 陸宇 / Rikuu Hasegawa / ハセガワ リクウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 弘原海 拓也 / Takuya Wadatsumi / ワダツミ タクヤ |
| 第2著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 門田 和樹 / Kazuki Monta / モンタ カズキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三木 拓司 / Takuji Miki / ミキ タクジ |
| 第4著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト |
| 第5著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2023-04-14 15:10:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | HWS |
| 資料番号 | HWS2023-5 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | no.6 |
| ページ範囲 | pp.16-19 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2023-04-07 (HWS) |
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