| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2023-04-14 14:45 暗号ICチップの電磁的故障注入攻撃における解析手法の検討 ○林 佑亮・長谷川陸宇・弘原海拓也・門田和樹・三木拓司・永田 真（神戸大）  HWS2023-4 |
|
| 抄録 | （和） | 暗号集積回路(IC)チップに対する故障注入攻撃における故障注入手法にはレーザーや電磁波などといった様々な手法がある。一方、故障注入攻撃による故障を利用した解析手法については、理論的な側面からしか考えられておらず、実際の故障注入によって引き起こされる故障に適応するような解析手法の検討にはまだ多くの余地がある。そこで、暗号ICチップに対して故障注入を行い、ビットフリップの傾向を観測した。実測から得られた故障の傾向を踏まえ、故障暗号文を任意に作成し、差分故障解析(DFA)を行うシミュレーションを作成した。この実際の環境に近いシミュレーション手法とこれまでに提案されていた解析手法を比較し、攻撃実現性について検討した。 |
| （英） | There are various methods of fault injection attacks on cryptographic IC chips, such as lasers and electromagnetic waves. On the other hand, analysis methods using faults caused by fault injection attacks have only been considered from a theoretical aspect, and analysis methods that adapt to actual faults caused by fault injection have not yet been considered. Therefore, we performed fault injection on IC chips and observed the trend of bit flips. Based on the fault trends obtained from the actual measurements, we created simulations in which fault ciphertexts were arbitrarily created and DFA was performed. We compared this simulation method, which is close to the actual environment, with the previously proposed analysis method, and examined the feasibility of the attack. | |
| キーワード | （和） | AES / 故障注入攻撃 / DFA / / / / / |
| （英） | AES / fault injection attack / DFA / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 123, no. 6, HWS2023-4, pp. 11-15, 2023年4月. | |
| 資料番号 | HWS2023-4 | |
| 発行日 | 2023-04-07 (HWS) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | HWS2023-4 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS |
| 開催期間 | 2023-04-14 - 2023-04-15 |
| 開催地（和） | 湯布院公民館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | ハードウェアセキュリティ，一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | HWS |
| 会議コード | 2023-04-HWS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 暗号ICチップの電磁的故障注入攻撃における解析手法の検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Exploration of analysis methods of electromagnetic fault injection attacks on cryptographic IC chips |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | AES / AES |
| キーワード(2)（和/英） | 故障注入攻撃 / fault injection attack |
| キーワード(3)（和/英） | DFA / DFA |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 林 佑亮 / Yusuke Hayashi / ハヤシ ユウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 長谷川 陸宇 / Rikuu Hasegawa / ハセガワ リクウ |
| 第2著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 弘原海 拓也 / Takuya Wadatsumi / ワダツミ タクヤ |
| 第3著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 門田 和樹 / Kazuki Monta / モンタ カズキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三木 拓司 / Takuji Miki / ミキ タクジ |
| 第5著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト |
| 第6著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2023-04-14 14:45:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | HWS |
| 資料番号 | HWS2023-4 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | no.6 |
| ページ範囲 | pp.11-15 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2023-04-07 (HWS) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]