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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2023-08-03 15:05 Gate Driver IC with Fully Integrated Overcurrent Protection Function by Measuring Gate-to-Emitter Voltage ○Haifeng Zhang・Dibo Zhang・Hiromu Yamasaki・Katsuhiro Hata（Univ. of Tokyo）・Keiji Wada（Tokyo Metropolitan Univ.）・Kan Akatsu（Yokohama National Univ.）・Ichiro Omura（Kyusyu Institute of Technology）・Makoto Takamiya（Univ. of Tokyo）  SDM2023-53 ICD2023-32 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 123, no. 144, ICD2023-32, pp. 74-78, 2023年8月. | |
| 資料番号 | ICD2023-32 | |
| 発行日 | 2023-07-25 (SDM, ICD) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SDM2023-53 ICD2023-32 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SDM ICD ITE-IST |
| 開催期間 | 2023-08-01 - 2023-08-03 |
| 開催地（和） | 北海道大学 情報教育館 3F |
| 開催地（英） | Hokkaido Univ. Multimedia Education Bldg. 3F |
| テーマ（和） | アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧・低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 |
| テーマ（英） | Analog, Mixed Analog and Digital, RF, and Sensor Interface, Low Voltage/Low Power Techniques, Novel Devices/Circuits, and the Applications |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2023-08-SDM-ICD-IST |
| 本文の言語 | 英語 |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Gate Driver IC with Fully Integrated Overcurrent Protection Function by Measuring Gate-to-Emitter Voltage |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | / |
| キーワード(2)（和/英） | / |
| キーワード(3)（和/英） | / |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | Haifeng Zhang / Haifeng Zhang / |
| 第1著者 所属（和/英） | The University of Tokyo (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | Dibo Zhang / Dibo Zhang / |
| 第2著者 所属（和/英） | The University of Tokyo (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | Hiromu Yamasaki / Hiromu Yamasaki / |
| 第3著者 所属（和/英） | The University of Tokyo (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | Katsuhiro Hata / Katsuhiro Hata / |
| 第4著者 所属（和/英） | The University of Tokyo (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | Keiji Wada / Keiji Wada / |
| 第5著者 所属（和/英） | Tokyo Metropolitan University (略称： 都立大) Tokyo Metropolitan University (略称： Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | Kan Akatsu / Kan Akatsu / |
| 第6著者 所属（和/英） | Yokohama National University (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： Yokohama National Univ.) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | Ichiro Omura / Ichiro Omura / |
| 第7著者 所属（和/英） | Kyusyu Institute of Technology (略称： Kyusyu Institute of Technology) Kyusyu Institute of Technology (略称： Kyusyu Institute of Technology) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | Makoto Takamiya / Makoto Takamiya / |
| 第8著者 所属（和/英） | The University of Tokyo (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2023-08-03 15:05:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | SDM2023-53, ICD2023-32 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | no.143(SDM), no.144(ICD) |
| ページ範囲 | pp.74-78 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2023-07-25 (SDM, ICD) |
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