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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2023-11-17 10:00 裏面電圧故障注入を用いた差分故障解析による秘密鍵導出 ○林 佑亮・長谷川陸宇・弘原海拓也・門田和樹・三木拓司・永田 真（神戸大）  VLD2023-64 ICD2023-72 DC2023-71 RECONF2023-67 |
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| 抄録 | （和） | 暗号集積回路(IC)チップに対する故障注入攻撃における故障注入手法として、これまで正確性のあるレーザーが代表的な手法としてあげられてきた。しかし、レーザーは攻撃コストの面で課題が存在する。そこで、レーザーと比較して攻撃コストの低い擾乱注入手法であるチップ裏面に対する電圧パルスに着目し、実際に暗号ICチップに対して故障注入を行った。そして、故障注入によって得られた故障暗号文を用いて差分故障解析(DFA)を行い秘密鍵の導出に成功した。 |
| （英） | Lasers have been the leading method of fault injection in fault injection attacks on cryptographic integrated circuit (IC) chips. However, lasers present a challenge in terms of attack cost. Therefore, we focused on the voltage pulse to the backside of the chip, which is a disturbance injection method with lower attack cost compared to the laser, and actually performed fault injection on a cryptographic IC chip. Then, we performed differential fault analysis (DFA) using the fault ciphertext obtained by fault injection and succeeded in deriving the secret key. | |
| キーワード | （和） | AES / 故障注入攻撃 / DFA / 裏面電圧故障注入 / / / / |
| （英） | AES / fault injection attack / DFA / backside voltage fault injection / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 123, no. 259, ICD2023-72, pp. 178-181, 2023年11月. | |
| 資料番号 | ICD2023-72 | |
| 発行日 | 2023-11-08 (VLD, ICD, DC, RECONF) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2023-64 ICD2023-72 DC2023-71 RECONF2023-67 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC RECONF ICD IPSJ-SLDM |
| 開催期間 | 2023-11-15 - 2023-11-17 |
| 開催地（和） | くまもと市民会館シアーズホーム夢ホール |
| 開催地（英） | Civic Auditorium Sears Home Yume Hall |
| テーマ（和） | デザインガイア2023 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2023 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2023-11-VLD-DC-RECONF-ICD-SLDM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 裏面電圧故障注入を用いた差分故障解析による秘密鍵導出 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Derivation of secret keys by differential fault analysis using backside voltage fault injection |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | AES / AES |
| キーワード(2)（和/英） | 故障注入攻撃 / fault injection attack |
| キーワード(3)（和/英） | DFA / DFA |
| キーワード(4)（和/英） | 裏面電圧故障注入 / backside voltage fault injection |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 林 佑亮 / Yusuke Hayashi / ハヤシ ユウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 長谷川 陸宇 / Rikuu Hasegawa / ハセガワ リクウ |
| 第2著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 弘原海 拓也 / Takuya Wadatsumi / ワダツミ タクヤ |
| 第3著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 門田 和樹 / Kazuki Monta / モンタ カズキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三木 拓司 / Takuji Miki / ミキ タクジ |
| 第5著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト |
| 第6著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2023-11-17 10:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | VLD2023-64, ICD2023-72, DC2023-71, RECONF2023-67 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | no.258(VLD), no.259(ICD), no.260(DC), no.261(RECONF) |
| ページ範囲 | pp.178-181 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2023-11-08 (VLD, ICD, DC, RECONF) |
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